Cyfrowy mikroskop optyczny
System mikroskopowy HRX-01-IR służy do obserwacji cieczy i ciał stałych in-situ w zakresie światła widzialnego, podczerwonego i ultrafioletowego. Umożliwia prowadzenie pomiarów w układzie 2D i 3D, w płaszczyźnie poziomej i osi pionowej. Stanowisko składa się z mikroskopu z automatycznym ruchem w osiach XYZ, dwóch kamer, dwóch układów optycznych, stacji roboczej oraz dedykowanego oprogramowania analitycznego.
- Pierwsza kamera (CMOS, 2/3") umożliwia obrazowanie z rozdzielczością 5,07 Mpix przy 50 klatkach/s i pracuje w trybie HDR. Druga kamera (CMOS, 8,1 mm) generuje obraz w rozdzielczości 3840×2160 pikseli. Obie umożliwiają pracę w świetle VIS, IR i UV.
- Pierwszy układ optyczny posiada trzy zmotoryzowane obiektywy, obejmujące zakresy powiększeń 20x–140x, 140x–1000x i 700x–2500x. Drugi układ optyczny umożliwia powiększenia 35x–350x. Obydwa układy są kompatybilne z kamerami C-Mount i obsługują różne typy oświetlenia: pierścieniowe, coaxialne, mieszane i polaryzacyjne.
- Podstawa mikroskopu jest antywibracyjna, stolik umożliwia ruch w zakresie 100×100 mm z dokładnością 100 nm, ruch w osi Z – 75 mm z dokładnością 50 nm. Zainstalowano również drugi statyw z elastycznym ramieniem.
- Stacja robocza: procesor Intel i9-12900K, 32 GB RAM, karta graficzna GeForce RTX 5070, dwa monitory 4K 27”, system Windows 11 Pro.
- Oprogramowanie umożliwia m.in. tworzenie modeli 3D, pomary topografii oraz zliczanie cząstek (do 20 000), obrazowanie panoramiczne, autofokus, ochronę przed kolizją oraz automatyczne zapisywanie ustawień pomiarowych.
Szczegółowe zasady udostępniania dostępne są na stronie: https://acmin.agh.edu.pl/wspolpraca
System umożliwia pomiary i obrazowanie dowolnych próbek, zarówno stałych, jak i ciekłych. Pozwala na rejestrację dynamiki procesów z określonym krokiem czasowym oraz prowadzenie pomiarów in-situ. Możliwe jest równoczesne obrazowanie zmian zachodzących pod wpływem bodźców zewnętrznych, takich jak światło, temperatura czy pole magnetyczne, w zakresie światła widzialnego i podczerwieni.
System umożliwia pomiary topografii 3D i chropowatości (ISO 25178, ISO 4287), pomiary 2D (długość, kąt, średnica) oraz powierzchniowe (pole, obwód), automatyczne zliczanie cząstek i analizę statystyczną. Obsługuje pomiary in-situ trwających eksperymentów i procesów w świetle widzialnym i podczerwonym. System wyposażony jest w dodatkową diodę IR o długości fali 850 nm, autofokus, kalibrację obiektywów oraz pomiary w pełnej głębi ostrości.






Jednostka odpowiedzialna