Mikroskop metalograficzny Nikon Eclipse LV150N
Mikroskop świetlny (LM) umożliwia obrazowanie w świetle odbitym w jasnym polu (BF), ciemnym polu (DF), świetle spolaryzowanym (POL) oraz kontraście interferencyjnym tzw. kontraście Nomarskiego (DIC). Posiada w pełni zmotoryzowany stolik (X,Y,Z), pozwalający na automatyczne robienie zdjęć w powiększonej głębi ostrości (EDF), wraz z trójwymiarowym obrazowaniem powierzchni, a także pozwala na automatyczne skanowanie całych zgładów metalograficznych w wysokiej rozdzielczości.
Aparatura udostępniania na zasadach wynikających z Regulaminu Korzystania z Infrastruktury Badawczej ACMiN. (https://acmin.agh.edu.pl/acmin/dokumenty/)
Mikroskop świetlny (LM) umożliwia obrazowanie w świetle odbitym w jasnym polu (BF), ciemnym polu (DF), świetle spolaryzowanym (POL) oraz kontraście interferencyjnym tzw. kontraście Nomarskiego (DIC). Posiada w pełni zmotoryzowany stolik (X,Y,Z), pozwalający na automatyczne robienie zdjęć w powiększonej głębi ostrości (EDF), wraz z trójwymiarowym obrazowaniem powierzchni, a także pozwala na automatyczne skanowanie całych zgładów metalograficznych w wysokiej rozdzielczości.
Jednostka odpowiedzialna
Grupa / laboratorium / zespół
Zakład Inżynierii Materiałowej