Niskotemperaturowy skaningowy mikroskop tunelowy

Nazwa handlowa
VT-STM UHV z głowicą RHK Beetle
Opis techniczny

Skaningowy mikroskop tunelowy należy do rodziny mikroskopów próbkujących (SPM) i umożliwia badanie powierzchni z atomową rozdzielczością. Działa w oparciu o kwantowe zjawisko tunelowania elektronów przez barierę, które w mechanice klasycznej nie mogłyby jej pokonać. Sondę (w postaci ekstremalnie ostrego, metalowego ostrza) zbliża się do przewodzącej próbki na odległość rzędu kilku angstremów. W tych warunkach system rejestruje prąd tunelowy, który zależy od odległości między ostrzem i próbką oraz lokalnej gęstości stanów (LDOS) w okolicy energii Fermiego. Skanując punkt po punkcie i i linia po linii uzyskuje się dwuwymiarowy obraz badanej powierzchni. Obrazu tego przeważnie nie można bezpośrednio interpretować jako topografii; wymaga on głębszej analizy połączonej często z dodatkowymi metodami pomiarowych i/lub symulacjami numerycznymi. Rozszerzeniem możliwości tego mikroskopu jest również możliwość przeprowadzania pomiarów spektroskopowych (STS). Umożliwiają one uzyskanie informację o lokalnej strukturze elektronowej próbki, obsadzonych i nieobsadzonych stanów w pobliżu energii Fermiego. Wszystkie wymienione pomiary można wykonać w szerokim zakresie temperatur, patrz: „możliwości pomiarowe”. Rozszerzenie systemu próżniowego mikroskopu STM stanowi komora przygotowawcza próbek w standardzie UHV.

Warunki udostępniania infrastruktury

Aparatura udostępniania na zasadach wynikających z Regulaminu Korzystania z Infrastruktury Badawczej ACMiN.(https://acmin.agh.edu.pl/acmin/dokumenty/)

Rodzaj akredytacji / certyfikatu:
Nie dotyczy
Rodzaj dostępu
Zewnętrzna
Możliwości badawcze

Obrazowanie 'topografii' powierzchni przewodzących próbek z rozdzielczością atomową.

Wyznaczanie charakterystyk prądowo-napięciowych (I-V, dI/dV)

Data ostatniej aktualizacji
30 sierpnia 2023 12:46
Rok wprowadzenia do użytkowania
2011
Możliwości pomiarowe

Zgrubne pozycjonowanie XY: 5 mm x 5 mm

Obszar skanowania: 5 μm x 5 μm (X, Y)

Minimalna rozdzielczość: 0.5Å (X, Y) and 0.1Å (Z)

Dryft termiczny: <1 Å/min

Temperatura próbki: ~50 K (LHe) lub ~120 K (LN2) do ~1500 K

Maksymalny rozmiar próbki: 10mm średnica

Zdjęcia
skaningowy mikroskop tunelowy
skaningowy mikroskop tunelowy