Profilometr do pomiarów warstw o wymiarach nanometrycznych
Nazwa handlowa
Profilometr Bruker DektakXT
Opis techniczny
Profilometr igłowy stykowy służący badaniu chropowatości oraz falistości powierzchni z rozdzielczością 1 A oraz powtarzalnością na poziomie 4 A≤ (angstrem).
Warunki udostępniania infrastruktury
Aparatura udostępniania na zasadach wynikających z Regulaminu Korzystania z Infrastruktury Badawczej ACMiN. (https://acmin.agh.edu.pl/home/acmin/5_Wspolpraca/Aparatura/Zasady_i_koszty_korzystania_z_infrastruktury_badawczej_ACMiN.pdf)
Rodzaj akredytacji / certyfikatu:
Nie dotyczy
Rodzaj dostępu
Zewnętrzna
Możliwości badawcze
Aparatura pozwala na mierzenie grubości nanoszonych przez użytkownika cienkich warstw, tworzenie profili w określonych kierunkach i eksport wartości, wraz z przeliczeniem chropowatości.
Data ostatniej aktualizacji
10 marca 2025 13:34
Rok wprowadzenia do użytkowania
2013
Zdjęcia
Profilometr Bruker DektakXT
Jednostka odpowiedzialna
Grupa / laboratorium / zespół
Zakład Efektów Kwantowych w Nanostrukturach