Profilometr do pomiarów warstw o wymiarach nanometrycznych
Nazwa handlowa
Profilometr Bruker DektakXT
Opis techniczny
Profilometr igłowy stykowy służący badaniu chropowatości oraz falistości powierzchni z rozdzielczością 1 A oraz powtarzalnością na poziomie 4 A≤ (angstrem).
Warunki udostępniania infrastruktury
Aparatura udostępniania na zasadach wynikających z Regulaminu Korzystania z Infrastruktury Badawczej ACMiN. (https://acmin.agh.edu.pl/acmin/dokumenty/)
Rodzaj akredytacji / certyfikatu:
Nie dotyczy
Rodzaj dostępu
Zewnętrzna
Możliwości badawcze
Aparatura pozwala na mierzenie grubości nanoszonych przez użytkownika cienkich warstw, tworzenie profili w określonych kierunkach i eksport wartości, wraz z przeliczeniem chropowatości.
Data ostatniej aktualizacji
10 listopada 2023 12:39
Rok wprowadzenia do użytkowania
2013
Zdjęcia
![Profilometr Bruker DektakXT](/media/cache/81/5b/815b9578e702773a69784f2b737b0067.webp)
Profilometr Bruker DektakXT
![Profilometr Bruker DektakXT](/media/cache/63/38/63380bccf38a1364b5d8d911ba85ff48.webp)
Jednostka odpowiedzialna
Grupa / laboratorium / zespół
Zespół Efektów Kwantowych w Nanostrukturach