Mikroskop konfokalny
Olympus LEXT OLS4000 to mikroskop konfokalny o wysokiej rozdzielczości przeznaczony do obrazowania powierzchni 3D oraz pomiarów chropowatości.
Powiększenie (optyczne i cyfrowe) tego mikroskopu mieści się w zakresie od 108x do 17 280x.
Oprogramowanie mikroskopu LEXT OLS4000 pozwala dokonywać pomiarów: chropowatości linii i powierzchni, wymiarów obiektów (wysokości, długości, pola powierzchni, objętości, grubości warstw), itp.
Więcej szczegółów: https://www.olympus-ims.com/pl/metrology/ols4000/
Praca wyłącznie za pośrednictwem operatora będącego pracownikiem KCiMO
2D, 3D tryby: rzeczywistych kolorów, wysokiej rozdzielczości i wysokości
Różnicowy kontrast interferencyjny (DIC)
Profil: Primary Profile: Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm
Roughnes Profile: Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm
Waviness Profile: Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm
Amplitude Parameters: Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa
Functional Parameters: Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2
Zestaw obiektywów konfokalnych 5X, 10X, 20X, 50X, 100X
Powiększenie 108 - 17280X
Źródło światła: laser półprzewodnikowy 405 nm
Kolorowy obraz: biała dioda LED, 2-megapikselowy detektor CCD
Zestaw filtrów pozwalającyh korygować szum, nachylenie oraz krzywiznę lub chropowatość powierzchni
Maksymalna średnica próbki 15 cm
Maksym. grubość próbki 10 cm
Maksym. waga próbki 1 kg
Jednostka odpowiedzialna