Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Mikroskop wysokotemperaturowy z dylatometrem optycznym do badania materiałów ceramicznych i innych pracujący do temperatury 1700°C

Osoba kontaktowa: Madej Dominika
Opis techniczny: Mikroskop wysokotemperaturowy z dylatometrem optycznym przeznaczony jest do zaawanasowanych obserwacji materiałów w wysokich temperaturach, a także wyznaczania współczynnika rozszerzalności cieplnej metodą bezkontaktową do temperatury …

System SPS (Spark Plasma Sintering) do konsolidacji proszków – GeniCore U‑FAST COMPACT​

Osoba kontaktowa: Pędzich Zbigniew
Opis techniczny: U‑FAST COMPACT to laboratoryjny system SPS do szybkiego spiekania proszków z wykorzystaniem impulsowego prądu stałego, z komorą próżniową, układem hydraulicznym, wysokoprądowym zasilaczem impulsowym, chłodzeniem wodnym i pomiarem tempe…

Tribometr TRB3

Osoba kontaktowa: Rutkowski Paweł
Opis techniczny: Urządzenie przeznaczone jest do wysoko-precyzyjnych badań odporności na zużycie ścierne, badań tarcia lub efektywności lubrykacyjnej składnika w układzie tribologicznym. Pomiary można przeprowadzać zarówno na sucho lub w trybie ze środkiem sm…

Stanowisko badań właściwości mechanicznych tworzyw ceramicznych

Osoba kontaktowa: Zych Łukasz
Opis techniczny: Maszyna wytrzymałościowa Zwick/Roell Z150 pozwala na wykonywanie pomiarów przy maksymalnym obciążeniu do 150kN. W zależności od zastosowanego osprzętu można wykonywać pomiary przy zginaniu (trzy i czteropunktowe podparcie) ściskaniu czy rozci…

Stanowisko do pomiaru właściwości termofizycznych materiałów

Osoba kontaktowa: Szumera Magdalena
Opis techniczny: Analizatory różnicowej kalorymetrii skaningowej DSC , termicznej analizy różnicowej DTA, termograwimetrii TG, dyfuzyjności cieplnej metodą laserową oraz dylatometr wysokotemperaturowy.

NOVA NanoSEM 200

Osoba kontaktowa: Ziąbka Magdalena
Opis techniczny: Ultrawysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG– emiter SCHOTKYEGO), współpracujący z analizatorem EDS firmy EDAX. Zdolność rozdzielcza do 2 nm,  powiększenia 70 – 500 000x.

Mikroskop konfokalny

Osoba kontaktowa: Gajek Marcin
Opis techniczny: Olympus LEXT OLS4000 to mikroskop konfokalny o wysokiej rozdzielczości przeznaczony do obrazowania powierzchni 3D oraz pomiarów chropowatości. Powiększenie (optyczne i cyfrowe) tego mikroskopu mieści się w zakresie od 108x do 17 280x. O…

Zestaw do mikroskopii skaningowej

Osoba kontaktowa: Ziąbka Magdalena
Opis techniczny: Mikroskopy SEM z kolumnami elektronowymi (FEG) oraz jonową, galową – Scios 2. Do oprzyrządowania należą spektroskopy EDS (EDAX), katodoluminescencyjny (GATAN AMETEK) oraz masowy jonów wtórnych z pomiarem czasu przelotu – TO…