Aparatura

Opis techniczny: Kluczowym czynnikiem, który decyduje o jakości otrzymanych obrazów w technice mikroskopii elektronowej SEM jest odpowiednie przygotowanie próbek. Na ogół przygotowuje się zgłady poprzez szlifowanie, polerowania oraz trawi…

Opis techniczny: Zautomatyzowany analizator do jednoczesnego określania rozmiaru, kształtu i liczby cząstek w badanej próbce. Możliwość badania proszków w stanie suchym, emulsji oraz zawiesin cieczowych w zakresie wielkości cząstek  0,5 &ndas…

Opis techniczny: Drukarka EOS M290 3D reprezentuje czwartą i najnowszą generację systemów opracowanych przez EOS do laserowego topienia proszków metali w technologii DMLS/SLM (Direct Metal Laser Sintering/ selective laser melting). Drukarce EOS M2…

Opis techniczny: Ultrawysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG– emiter SCHOTKYEGO), współpracujący z analizatorem EDS firmy EDAX. Zdolność rozdzielcza do 2 nm,  powiększenia 70 – 500 000x.

Opis techniczny: Mikroskopy SEM z kolumnami elektronowymi (FEG) oraz jonową, galową – Scios 2. Do oprzyrządowania należą spektroskopy EDS (EDAX), katodoluminescencyjny (GATAN AMETEK) oraz masowy jonów wtórnych z pomiarem czasu przelotu – TO…

Opis techniczny: Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…

Opis techniczny: Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…

Opis techniczny: SKANINGOWY MIKROSKOP ELEKTRONOWY - Tescan MIRA4 GMU z wyposażeniem. -Źródło elektronów – emiter polowy (Schottky) o wysokiej jasności, -Płynna regulacja prądu wiązki w zakresie od 2 pA do 400 nA, -Komora typu GM umożliwiająca umi…