Aparatura
Transmisyjny mikroskop elektronowy
Osoba kontaktowa:
Moskalewicz Tomasz
Opis techniczny:
Transmisyjny mikroskop elektronowy wyposażony jest w:
działo elektronowe z zimną emisją polową, napięcie przyspieszające 200 kV i 60 kV,
korektor aberracji sferycznych Cs dla układu oświetleniowego,
wysokokątowy pierścieniowy detektor ciem…
Polerka jonowa i napylarka
Jednostka:
Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
Osoba kontaktowa:
Wroński Sebastian
Opis techniczny:
Kluczowym czynnikiem, który decyduje o jakości otrzymanych obrazów w technice mikroskopii elektronowej SEM jest odpowiednie przygotowanie próbek. Na ogół przygotowuje się zgłady poprzez szlifowanie, polerowania oraz trawi…
Morphologi 4 - zautomatyzowany analizator wielkości i kształtu cząstek
Osoba kontaktowa:
Turlej Tymoteusz
Opis techniczny:
Zautomatyzowany analizator do jednoczesnego określania rozmiaru, kształtu i liczby cząstek w badanej próbce. Możliwość badania proszków w stanie suchym, emulsji oraz zawiesin cieczowych w zakresie wielkości cząstek 0,5 &ndas…
Drukarka 3D do metalu
Jednostka:
Katedra Systemów Wytwarzania
Osoba kontaktowa:
Karmiris-Obratański Panagiotis
Opis techniczny:
Drukarka EOS M290 3D reprezentuje czwartą i najnowszą generację systemów opracowanych przez EOS do laserowego topienia proszków metali w technologii DMLS/SLM (Direct Metal Laser Sintering/ selective laser melting). Drukarce EOS M2…
NOVA NanoSEM 200
Jednostka:
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Osoba kontaktowa:
Ziąbka Magdalena
Opis techniczny:
Ultrawysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG– emiter SCHOTKYEGO), współpracujący z analizatorem EDS firmy EDAX. Zdolność rozdzielcza do 2 nm, powiększenia 70 – 500 000x.
Zestaw do mikroskopii skaningowej
Jednostka:
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Osoba kontaktowa:
Ziąbka Magdalena
Opis techniczny:
Mikroskopy SEM z kolumnami elektronowymi (FEG) oraz jonową, galową – Scios 2. Do oprzyrządowania należą spektroskopy EDS (EDAX), katodoluminescencyjny (GATAN AMETEK) oraz masowy jonów wtórnych z pomiarem czasu przelotu – TO…
Skaningowy mikroskop elektronowy Nova Nano SEM 450
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…
Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…
ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY Z EDS I EBSD
Jednostka:
Wydział Odlewnictwa
Osoba kontaktowa:
Garbacz-Klempka Aldona
Opis techniczny:
SKANINGOWY MIKROSKOP ELEKTRONOWY - Tescan MIRA4 GMU z wyposażeniem. -Źródło elektronów – emiter polowy (Schottky) o wysokiej jasności, -Płynna regulacja prądu wiązki w zakresie od 2 pA do 400 nA, -Komora typu GM umożliwiająca umi…
