Aparatura
Polerka jonowa i napylarka
Jednostka:
Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
Osoba kontaktowa:
Wroński Sebastian
Opis techniczny:
Kluczowym czynnikiem, który decyduje o jakości otrzymanych obrazów w technice mikroskopii elektronowej SEM jest odpowiednie przygotowanie próbek. Na ogół przygotowuje się zgłady poprzez szlifowanie, polerowania oraz trawi…
ScatterX78
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
Komora ScatterX78 umożliwia jednoczesny pomiar w próżni SAXS i WAXS. Pomiar możliwy jest już dla rozmiarów obiektów od 1 nm w wymiarach 1D i 2D. Dodatkowo zaproponowane rozszerzenie aparatury badawczej pozwala na prowadzenie bad…
