Filtry
Wyczyść filtry
Eksportuj wyniki

Aparatura

Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów galu (FIB/SEM)

Jednostka: Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
Osoba kontaktowa: Berent Katarzyna
Opis techniczny: Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Versa 3D wyposażony jest w działo elektronowe z emisją polową (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Ga+ (FIB - Focused Ion Beam). Umożliwia pracę z napięciem przyspieszającym…
Słowa kluczowe: ebsd EDS FIB FIB-SEM SEM SEM-BSE SEM-EDX SEM-SE Tomografia elektronowa

Skaningowy mikroskop elektronowy, SEM

Jednostka: Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
Osoba kontaktowa: Kruk Adam
Opis techniczny: MERLIN z kolumną GEMINI II i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (AsB), 3DSM i…
Słowa kluczowe: SEM-BSE SEM-EDX SEM-SE

Mikroskop elektronowy skaningowy FEI Quanta 200 FEG

Jednostka: Wydziałowe Laboratorium Badań Fazowych, Strukturalnych, Teksturalnych i Geochemicznych
Osoba kontaktowa: Bajda Tomasz
Opis techniczny: Wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z gorącą emisją polową (FEG - wysokostabilny emiter elektronów Schottky'ego), zapewniający: możliwość obserwacji w zmiennej próżni, powiększenia 70 ÷ 300 000x, zdolność…
Słowa kluczowe: ebsd mikroskopia elektronowa SEM SEM-BSE SEM-EDS SEM-SE

FIB-SEM, skaningowy mikroskop elektronowy SEM z działem jonowym FIB

Jednostka: Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
Osoba kontaktowa: Kruk Adam
Opis techniczny: FIB-SEM Crossbeam 350 z kolumną GEMINI i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (…
Słowa kluczowe: SEM-BSE SEM-SE