Aparatura
Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów galu (FIB/SEM)
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Versa 3D wyposażony jest w działo elektronowe z emisją polową (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Ga+ (FIB - Focused Ion Beam). Umożliwia pracę z napięciem przyspieszającym…
Skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonowym (SEM/FIB)
Osoba kontaktowa:
Gajewska Marta
Opis techniczny:
Mikroskop Quanta 3D 200i typu „dual beam” (SEM/FIB) jest urządzeniem dedykowanym do preparatyki cienkich folii do badań TEM/STEM. Instrument wyposażony jest w dwa działa: elektronowe (włókno wolframowe) oraz jonowe (Ga+), sy…
