Aparatura

Skaningowy mikroskop elektronowy, SEM

Jednostka: Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej

Opis techniczny: MERLIN z kolumną GEMINI II i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (AsB), 3DSM i…

Słowa kluczowe: SEM-BSE SEM-EDX SEM-SE

Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy (FIB/SEM)

Jednostka: Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii

Osoba kontaktowa: Berent Katarzyna

Opis techniczny: Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Versa 3D wyposażony jest w działo elektronowe z emisją polową (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Ga+ (FIB - Focused Ion Beam). Umożliwia pracę z napięciem przyspieszającym…

Słowa kluczowe: ebsd EDS FIB FIB-SEM SEM SEM-BSE SEM-EDX SEM-SE Tomografia elektronowa