Aparatura
Dwuwiązkowy ultra-wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów ksenonu (PFIB/SEM) wraz z mikroskopem sił atomowych (AFM)
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Dwuwiązkowy, ultra-wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy Helios 5 wyposażony jest w wysokostabilne, monochromatyczne działo elektronowe z emisją polową Schottky'ego (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Xe (PFIB - …
Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów galu (FIB/SEM)
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Versa 3D wyposażony jest w działo elektronowe z emisją polową (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Ga+ (FIB - Focused Ion Beam). Umożliwia pracę z napięciem przyspieszającym…
Zestaw do polerowania jonowego powierzchni płaskich oraz wykonywania przekrojów poprzecznych ciał stałych
Osoba kontaktowa:
Tokarski Tomasz
Opis techniczny:
Polerka jonowa jest urządzeniem służącym do precyzyjnego polerowania powierzchni płaskich jak również do wykonywania przekrojów poprzecznych materiałów metalicznych, ceramicznych i polimerów. Urządzenie umożliwia pr…
Detektory EBSD i EDS
Osoba kontaktowa:
Cios Grzegorz
Opis techniczny:
Detektor EBSD Symmetry S2 jest zamontowany w skaningowym mikroskopie elektronowym (SEM) Versa 3D w laboratorium skaningowej mikroskopii elektronowej ACMIN. Pozwala na: -analizę lokalnej tekstury oraz składu fazowego materiałów krystalicznych.…
Mikroskop elektronowy skaningowy FEI Quanta 200 FEG
Osoba kontaktowa:
Bajda Tomasz
Opis techniczny:
Wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z gorącą emisją polową (FEG - wysokostabilny emiter elektronów Schottky'ego), zapewniający: możliwość obserwacji w zmiennej próżni, powiększenia 70 ÷ 300 000x, zdolność…
Zestaw do mikroskopii skaningowej
Jednostka:
Katedra Ceramiki i Materiałów Ogniotrwałych
Osoba kontaktowa:
Ziąbka Magdalena
Opis techniczny:
Mikroskopy SEM z kolumnami elektronowymi (FEG) oraz jonową, galową – Scios 2. Do oprzyrządowania należą spektroskopy EDS (EDAX), katodoluminescencyjny (GATAN AMETEK) oraz masowy jonów wtórnych z pomiarem czasu przelotu – TO…
Skaningowy mikroskop elektronowy Nova Nano SEM 450
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…
Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…
ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY Z EDS I EBSD
Jednostka:
Wydział Odlewnictwa
Osoba kontaktowa:
Garbacz-Klempka Aldona
Opis techniczny:
SKANINGOWY MIKROSKOP ELEKTRONOWY - Tescan MIRA4 GMU z wyposażeniem. -Źródło elektronów – emiter polowy (Schottky) o wysokiej jasności, -Płynna regulacja prądu wiązki w zakresie od 2 pA do 400 nA, -Komora typu GM umożliwiająca umi…
