Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Zestaw do polerowania jonowego powierzchni płaskich oraz wykonywania przekrojów poprzecznych ciał stałych

Osoba kontaktowa: Tokarski Tomasz
Opis techniczny: Polerka jonowa  jest urządzeniem służącym do precyzyjnego polerowania powierzchni płaskich jak również do wykonywania przekrojów poprzecznych materiałów metalicznych, ceramicznych i polimerów. Urządzenie umożliwia pr…

Detektory EBSD i EDS

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Detektor EBSD Symmetry S2 jest zamontowany w skaningowym mikroskopie elektronowym (SEM) Versa 3D w laboratorium skaningowej mikroskopii elektronowej ACMIN. Pozwala na: -analizę lokalnej tekstury oraz składu fazowego materiałów krystalicznych.…

Mikroskop elektronowy skaningowy FEI Quanta 200 FEG

Osoba kontaktowa: Bajda Tomasz
Opis techniczny: Wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z gorącą emisją polową (FEG - wysokostabilny emiter elektronów Schottky'ego), zapewniający: możliwość obserwacji w zmiennej próżni, powiększenia 70 ÷ 300 000x, zdolność…

Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy (FIB/SEM)

Osoba kontaktowa: Berent Katarzyna
Opis techniczny: Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Versa 3D wyposażony jest w działo elektronowe z emisją polową (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Ga+ (FIB - Focused Ion Beam). Umożliwia pracę z napięciem przyspieszającym…

Zestaw do mikroskopii skaningowej

Osoba kontaktowa: Ziąbka Magdalena
Opis techniczny: Mikroskopy SEM z kolumnami elektronowymi (FEG) oraz jonową, galową – Scios 2. Do oprzyrządowania należą spektroskopy EDS (EDAX), katodoluminescencyjny (GATAN AMETEK) oraz masowy jonów wtórnych z pomiarem czasu przelotu – TO…

Skaningowy mikroskop elektronowy Nova Nano SEM 450

Osoba kontaktowa: Kopyściański Mateusz
Opis techniczny: Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…

Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50

Osoba kontaktowa: Kopyściański Mateusz
Opis techniczny: Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…

ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY Z EDS I EBSD

Osoba kontaktowa: Garbacz-Klempka Aldona
Opis techniczny: SKANINGOWY MIKROSKOP ELEKTRONOWY - Tescan MIRA4 GMU z wyposażeniem. -Źródło elektronów – emiter polowy (Schottky) o wysokiej jasności, -Płynna regulacja prądu wiązki w zakresie od 2 pA do 400 nA, -Komora typu GM umożliwiająca umi…