Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Mikrosonda Elektronowa Jeol SuperProbe JXA-8230

Osoba kontaktowa: Piestrzyński Adam
Opis techniczny: Mikrosonda elektronowa JEOL Super Probe 8230 wyposażona  jest w : - 5 spektrometrów długości fali charakterystycznego promieniowania X (WDS) wyposażonych w 12 kryształów dyfrakcyjnych (LIF, LIFL, LIFH, TAP, TAPH, PETL, PETH, PE…

Skaningowy mikroskop elektronowy Nova Nano SEM 450

Osoba kontaktowa: Kopyściański Mateusz
Opis techniczny: Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…

Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50

Osoba kontaktowa: Kopyściański Mateusz
Opis techniczny: Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…