Aparatura
Mikrosonda Elektronowa Jeol SuperProbe JXA-8230
Jednostka:
Katedra Geologii Złożowej i Górniczej
Osoba kontaktowa:
Piestrzyński Adam
Opis techniczny:
Mikrosonda elektronowa JEOL Super Probe 8230 wyposażona jest w :
- 5 spektrometrów długości fali charakterystycznego promieniowania X (WDS) wyposażonych w 12 kryształów dyfrakcyjnych (LIF, LIFL, LIFH, TAP, TAPH, PETL, PETH, PE…
Skaningowy mikroskop elektronowy Nova Nano SEM 450
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…
Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…
