Aparatura

ScatterX78

Jednostka: Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii

Osoba kontaktowa: Marciszko-Wiąckowska Marianna

Opis techniczny: Komora ScatterX78 umożliwia jednoczesny pomiar w próżni SAXS i WAXS. Pomiar możliwy jest już dla rozmiarów obiektów od 1 nm w wymiarach 1D i 2D. Dodatkowo zaproponowane rozszerzenie aparatury badawczej pozwala na prowadzenie bad…

Słowa kluczowe: dyfrakcja SAXS WAXS XRD