Nazwa handlowa
Skaningowy mikroskop elektronowy FEI Nova NanoSEM 200
Opis techniczny

Ultrawysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG– emiter SCHOTKYEGO), współpracujący z analizatorem EDS firmy EDAX. Zdolność rozdzielcza do 2 nm,  powiększenia 70 – 500 000x.

Warunki udostępniania infrastruktury

Praca wyłącznie za pośrednictwem operatora będącego pracownikiem Wydziałowego Laboratorium Mikroskopii Skaningowej i Mikroanalizy WIMiC
Zlecenie/ umowa/inna forma współpracy po uzgodnieniu.

Rodzaj akredytacji / certyfikatu:
Nie dotyczy
Rodzaj dostępu
Zewnętrzna
Możliwości badawcze

Wysokorozdzielcze badania mikrostruktury materiałów w wysokiej i niskiej próżni.

Obserwacja powierzchni materiałów w elektronach  wtórnych i wstecznie rozproszonych.

Badania mikrostruktury proszków, świeżych przełamów i zgładów. Analizy pierwiastków począwszy od boru do końca układu okresowego.

Analiza rozdładu pierwiastków w mikroobszarach („mapping”), a także analizy liniowe.

Data ostatniej aktualizacji
24 maja 2023 14:00
Rok wprowadzenia do użytkowania
2005
Możliwości pomiarowe
  • Napięcie przyspieszające 5 – 30 kV
  • Ciśnienie w komorze < 10-2 Pa (HVac) oraz 60-200 Pa (LVac)
  • Detektory wymagające wysokiej próżni: Everhart-Thornley SED, BSED, In-lens TLD – ultrawysokorodzielczy (próbki niemagnetyczne)
  • Detektory niksopróżniowe: low vaccum LVD, helix – ultrawysokorozdzielczy (próbki niemagnetyczne)
Zdjęcia
FEI Nova NanoSEM 200
FEI Nova NanoSEM 200