Profilometr optyczny
Tryb pionowej interferometrii skanującej, tryb interferometrii przesunięcia fazowego oraz tryb łączący obydwie powyższe techniki. Pionowy zakres skanowania 10 mm ze sprzężeniem zwrotnym w zamkniętej pętli dla całego zakresu skanowania. Kamera o matrycy 640 x 480 pikseli o szybkości 60 klatek na sekundę. Rewolwer sterowany z poziomu oprogramowania na 3 soczewki zmieniające pole obserwacji. Zmotoryzowany stolik próbki XY, o zakresach przesuwu 200 mm x 200 mm, sterowany dedykowanym oprogramowaniem do sklejania mniejszych obrazów w większe. Zmotoryzowany mechanizm regulacji pochyłu realizowany poprzez pochył głowicy pomiarowej. System izolacji antywibracyjnej (z kompresorem). Komputer PC z oprogramowaniem sterującym oraz oprogramowaniem do akwizycji i analizy danych, do analizy obrazu oraz typowymi funkcjami analitycznymi do badań tribologicznych. • Obiektywy interferencyjne 5x i 20x. Zasilacz awaryjny UPS.
W ramach umów i zleconych zadań badawczych/upoważnienie kierownika Katedry IPiAM.
Urządzenie zapewnia możliwość pomiarów topografii powierzchni z wysoką rozdzielczością dla szerokiego zakresu materiałów
• 10 mm zakres skanowania o bardzo dużej dokładności • zautomatyzowany stolik Z z zakresem 100 mm; zmotoryzowany stolik XY o zakresie przesuwu 200 mm w obu kierunkach; automatyczna regulacja pochyłu próbki • obiektyw interferometryczny Michelson 5x do pomiaru próbek o współczynniku odbicia około 20 %. Wysokość próbki nie może przekraczać 4”
Jednostka odpowiedzialna
Grupa / laboratorium / zespół
KIPiM, laboratorium badania własności materiałów KIPiAM https://kipiam.agh.edu.pl/