Aparatura

Profilometr optyczny

Jednostka: Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej

Osoba kontaktowa: Rozmus-Górnikowska Magdalena

Opis techniczny: Tryb pionowej interferometrii skanującej, tryb interferometrii przesunięcia fazowego oraz tryb łączący obydwie powyższe techniki. Pionowy zakres skanowania 10 mm ze sprzężeniem zwrotnym w zamkniętej pętli dla całego zakresu skanowania. Kamera …

Słowa kluczowe: chropowatość powierzchni parametry chropowatości profilometr optyczny topografia powierzchni