Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją falową (WD-XRF) Rigaku ZSX Primus IV

Nazwa handlowa
WD-XRF Rigaku ZSX Primus IV
Opis techniczny

ZSX Primus IV to spektrometr XRF z dyspersją długości fali do jakościowej, półilościowej i ilościowej analizy pierwiastków. Jest w stanie wykrywać pierwiastki od Be do U.

Specyfikacja:

Zakres analizowanych pierwiastków: Be – U (Z = 4 – 92)

Parametry źródła rentgenowskiego:

  • lampa Rh 4 kW
  • napięcie przyspieszające: 60 kV
  • maksymalne natężenie prądu wiązki elektronowej: 150 mA
  • automatyczna funkcja wygrzewania lampy
  • lampa rentgenowska umieszczona nad analizowaną próbką

Układ wiązki pierwotnej:

  • automatyczny system osłabiania wiązki
  • możliwość wyboru filtra wiązki pierwotnej (dostępne cztery filtry (Al-125, Al-25, Ni-40, Ni-400)
  • sześciopozycyjny zmieniacz kolimatorów (35, 30, 20, 10, 1 oraz 0.5 mm)

Układ próbek:

  • automatyczny zmieniacz próbek  (48 pozycji)
  • możliwość obrotu próbki podczas pomiaru
  • hermetyczna komora umożliwiająca pomiar próbek proszkowych i ciekłych w atmosferze helu
  • możliwość prowadzenia pomiaru przy ustalonym kącie

Układ analizatora i detekcji:

  • automatyczny zmieniacz kryształów analizujących
  • 8 kryształów analizujących umożliwiających pomiar w zakresie B – U: LiF(200) : 22Ti-92U PET: 13Al-21Sc Ge: 15P-21Sc RX-25: 9F-12Mg RX-35: 8O-12Mg RX-40: 7N-8O RX-61: 5B-6C LiF(220): kryształ współpracujący z licznikiem scyntylacyjnym
  • detektor proporcjonalny i scyntylacyjny
  • system mapowania (pomiar punktowy) wraz z kamerą CCD

 

Warunki udostępniania infrastruktury

Aparatura udostępniania na zasadach wynikających z Regulaminu Korzystania z Infrastruktury Badawczej ACMiN. (https://acmin.agh.edu.pl/acmin/dokumenty/)

Rodzaj akredytacji / certyfikatu:
Nie dotyczy
Rodzaj dostępu
Zewnętrzna
Możliwości badawcze
  • jakościowa oraz ilościowa analiza składu pierwiastkowego
  • bezwzorcowa analiza składu chemicznego
  • makroskopowa oraz punktowa analiza składu chemicznego
  • możliwość wykonania pomiaru przy stałym kącie
  • możliwość analizy składu próbek litych oraz proszkowych
Data ostatniej aktualizacji
28 listopada 2024 11:17
Rok wprowadzenia do użytkowania
2020
Zdjęcia
WD-XRF Rigaku ZSX Primus IV
WD-XRF Rigaku ZSX Primus IV