Nanoindenter in-situ FT-NMT04

Nanoindenter in-situ FT-NMT04 umożliwia prowadzenie szeregu testów mikro-mechanicznych w połączeniu z jednoczesną obserwacją testowanej próbki w komorze elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM): Nanoindentację Testy ściskania mikro-kolumn Badanie odporności na pękanie w oparciu o zginanie mikro-belek Mikro/nano próby rozciągania statycznego Dynamiczną analizę mechaniczną (DMT) Próby zmęczeniowe Korelacyjne badania nanomechaniczne w połączeniu z obrazowaniem STEM, TKD lub EBSD Nanoindenter FT-NMT04 jest wysoce precyzyjnym urządzeniem umożliwiającym pozycjonowanie próbki względem wgłębnika w szerokim zakresie z wykorzystaniem: jednoosiowego piezoelektrycznego siłownika ‘stick-slip’ o zakresie 21mm i precyzji pozycjonowania 1nm (oś X), dwuosiowej platformy pozycjonowania próbki o zakresie 12mm (osie Y i Z) z precyzją pozycjonowania 1nm, oraz jednoosiowego wysokorozdzielczego skanera piezoelektrycznego (oś X), z możliwością ciągłego przemieszczenia w zakresie 25um i dokładnością pozycjonowania 50pm (poziom szumów pojemnościowego enkodera położenia). Zastosowanie dedykowanego wysokorozdzielczego skanera przemieszczenia, dzięki prowadzeniu testów w trybie kontroli przemieszczenia, umożliwia między innymi detekcję zjawisk takich jak aktywacja poślizgu dyslokacyjnego. Zakres i rozdzielczość pomiaru siły zależy od zainstalowanego mikroczujnika siły, maksymalną rozdzielczość na poziomie 0,5 nN można uzyskać przy zakresie siły ±200 μN, a maksymalny zakres siły to ±200000 μN z dokładnością 500nN. FT-NMT04 wykorzystuje wgłębniki zintegrowane z mikroczujnikiem siły. Dostępne geometrie wgłębników to między innymi: Berkovich, cube corner, flat punch.