Zestaw do jonowego polerowania i trawienia materiałów
Działo jonów Ar typu Penning, pracujące przy napięciu w zakresie od 0kV do 6kV Możliwość obserwacji próbki podczas procesu polerowania i cięcia przy użyciu stereoskopu Zakres polerowania próbek: średniacy 50 mm, wysokość 25 mm Tryb polerowania: -maksymalny rozmiar próbki w trybie polerowania 50mm - zakres ruchu (średnica obszaru polerowanego) - oś X:0-5 mm -kąt padania wiązki 0°-90° -kąt obrotu próbki ±90° -możliwość rotacji próbki z wyborem prędkości obrotowej -możliwość oscylacji próbki z wyborem kata oscylacji Tryb wykonywania przekrojów : - maksymalny rozmiar próbki 20mmx20mmx7mm - zakres ruchu – oś X ±7mm - zakres ruchu – oś Y ±3mm - kąt obrotu ±3mm - prędkość obrotu próbki 1obr/min, 25 obr/min - szybkość/wydajność cięcia: 500 µm/h (dla krzemu)
W ramach umów i zleconych zadań badawczych/upoważnienie kierownika Katedry IPiAM
polerowanie końcowe, np. dla EBSD, przy ścinianiu pod niskim kątem (FlatMilling) lub w celu kontrastowania przez ścienianie pod wysokim kątem w ciągu kilku minut. Wysokiej jakości nieodkształcone przekroje poprzeczne dla analiza struktur pod powierzchnią.
Jednostka odpowiedzialna
Grupa / laboratorium / zespół
Laboratorium metalograficzne KIPiAM https://kipiam.agh.edu.pl/