Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Analizator SDT Q600 firmy TA INSTRUMENTS

Osoba kontaktowa: Kmita Angelika
Opis techniczny: Analizator różnicowej kalorymetrii skaningowej DSC i termograwimetrii TG.    

Dyfraktometr rentgenowski z przystawką SAXS/WAXS

Opis techniczny: Dyfraktometr proszkowy Panalytical Empyrean z lampą Cu. Pozwala prowadzić pomiary w geometrii wiązki Bragg-Brentano z użyciem szczelin kolimacyjnych oraz w geometrii wiązki równoległej (lustro Goebla). Dyfraktometr wyposażony  w wysokocz…

Dyfraktometr rentgenowski z przystawką wysokotemperaturową

Opis techniczny: Dyfraktometr proszkowy Panalytical Empyrean z lampą Co. Pozwala prowadzić pomiary w geometrii wiązki Bragg-Brentano z użyciem szczelin kolimacyjnych oraz w geometrii wiązki równoległej (lustro Goebla). Wyposażony są w wysokoczuły detektor (PI…

Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów galu (FIB/SEM)

Osoba kontaktowa: Berent Katarzyna
Opis techniczny: Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Versa 3D wyposażony jest w działo elektronowe z emisją polową (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Ga+ (FIB - Focused Ion Beam). Umożliwia pracę z napięciem przyspieszającym…

Dwuwiązkowy ultra-wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów ksenonu (PFIB/SEM) wraz z mikroskopem sił atomowych (AFM)

Osoba kontaktowa: Berent Katarzyna
Opis techniczny: Dwuwiązkowy, ultra-wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy Helios 5 wyposażony jest w wysokostabilne, monochromatyczne działo elektronowe z emisją polową Schottky'ego (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Xe (PFIB - …

Napylarka wysokopróżniowa Q150T E Quorum Technologies

Osoba kontaktowa: Berent Katarzyna
Opis techniczny: Urządzenie umożliwia nanoszenie cienkich, amorficznych warstw węgla (C) o wysokiej czystości i dużej gęstości na powierzchni próbek nieprzewodzących, w celu poprawy przewodności elektrycznej próbek analizowanych przy użyciu skanin…

Mieszarka wysokoobrotowa

Osoba kontaktowa: Berent Katarzyna
Opis techniczny: Urządzenie służy do szybkiego mieszania i rozdrabniania materiałów. Zawiesiny mogą być jednorodnie wymieszane w ciągu kilku sekund.

Mikroskop sił atomowych sprzężony z nanoindenterem

Osoba kontaktowa: Szuwarzyński Michał
Opis techniczny: Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop pracujący w układzie skanowania sondą. Maksymalny obszar skanowania wynosi 90×90 μm w zakresie poziomym i do 10 μm w zakresie pionowym. Mikro…

Spektrometr fotoelektronów XPS

Osoba kontaktowa: Marzec Mateusz
Opis techniczny: Spektrometr fotoelektronów emitowanych pod wpływem naświetlania promieniowaniem rentgenowskim (XPS) lub ultrafiloteowym (UPS) służy do analizy składu i stanów chemicznych pierwiastków na powierzchni badanego materiału. Laborator…

Kwadrupolowy spektrometr mas HPR-20 R&D (MS)

Osoba kontaktowa: Kmita Angelika
Opis techniczny: Kwadrupolowy spektrometr mas  HPR-20 R&D (MS) sprzężony z termograwimetrem Q600 TA Instruments (TG).  Układ TG/DSC-MS umożliwia analizę jakościową i ilościową uwalnianych gazów i par wydzielających się w trakcie ogrzewania pr&oa…