Aparatura
Mikroskop sił atomowych sprzężony z nanoindenterem
Osoba kontaktowa:
Szuwarzyński Michał
Opis techniczny:
Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop pracujący w układzie skanowania sondą. Maksymalny obszar skanowania wynosi 90×90 μm w zakresie poziomym i do 10 μm w zakresie pionowym. Mikro…
Mieszarka wysokoobrotowa
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Urządzenie służy do szybkiego mieszania i rozdrabniania materiałów. Zawiesiny mogą być jednorodnie wymieszane w ciągu kilku sekund.
Młynek miksujący
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Młynek miksujący MM 400 to wielozadaniowe urządzenie przeznaczone do mielenia na sucho i mokro małych objętości do 2 x 20 ml. Miesza i homogenizuje proszki i zawiesiny z częstotliwością 30 Hz w ciągu kilku sekund.
Myjka ultradźwiękowa
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Urządzenie służy do skutecznego i precyzyjnego czyszczenia różnorodnych przedmiotów. Myjka posiada możliwość regulacji amplitudy drgań, temperatury oraz posiada programator czasowy.
Analizator SDT Q600 firmy TA INSTRUMENTS
Osoba kontaktowa:
Kmita Angelika
Opis techniczny:
Analizator różnicowej kalorymetrii skaningowej DSC i termograwimetrii TG.
Dyfraktometr rentgenowski z przystawką SAXS/WAXS
Osoba kontaktowa:
Marciszko-Wiąckowska Marianna
Opis techniczny:
Dyfraktometr proszkowy Panalytical Empyrean z lampą Cu. Pozwala prowadzić pomiary w geometrii wiązki Bragg-Brentano z użyciem szczelin kolimacyjnych oraz w geometrii wiązki równoległej (lustro Goebla). Dyfraktometr wyposażony w wysokocz…
Dyfraktometr rentgenowski z przystawką wysokotemperaturową
Osoba kontaktowa:
Marciszko-Wiąckowska Marianna
Opis techniczny:
Dyfraktometr proszkowy Panalytical Empyrean z lampą Co. Pozwala prowadzić pomiary w geometrii wiązki Bragg-Brentano z użyciem szczelin kolimacyjnych oraz w geometrii wiązki równoległej (lustro Goebla). Wyposażony są w wysokoczuły detektor (PI…
Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów galu (FIB/SEM)
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Versa 3D wyposażony jest w działo elektronowe z emisją polową (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Ga+ (FIB - Focused Ion Beam). Umożliwia pracę z napięciem przyspieszającym…
Dwuwiązkowy ultra-wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów ksenonu (PFIB/SEM) wraz z mikroskopem sił atomowych (AFM)
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Dwuwiązkowy, ultra-wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy Helios 5 wyposażony jest w wysokostabilne, monochromatyczne działo elektronowe z emisją polową Schottky'ego (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Xe (PFIB - …
Napylarka wysokopróżniowa Q150T E Quorum Technologies
Osoba kontaktowa:
Berent Katarzyna
Opis techniczny:
Urządzenie umożliwia nanoszenie cienkich, amorficznych warstw węgla (C) o wysokiej czystości i dużej gęstości na powierzchni próbek nieprzewodzących, w celu poprawy przewodności elektrycznej próbek analizowanych przy użyciu skanin…
