Mikroskop sił atomowych sprzężony z nanoindenterem

Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop pracujący w układzie skanowania sondą. Maksymalny obszar skanowania wynosi 90×90 μm w zakresie poziomym i do 10 μm w zakresie pionowym. Mikroskop umożliwia badanie próbek małych i dużych do średnicy 200 mm i grubości 15 mm, przez co nadaje się do obrazowania zarówno próbek laboratoryjnych, jak i przemysłowych. Pomiary odbywają się w dedykowanej komorze antywibracyjnej zapewniającej dodatkową izolację akustyczną. AFM wyposażony jest w system Closed-Loop i umożliwia wykonanie pomiarów wykorzystując najważniejsze techniki AFM.

Ponadto mikroskop wyposażony jest w drugą głowicę skanującą – Bruker Hysitron TriboScope, przeznaczą do obrazowania próbek twardych i równoczesnych ilościowych pomiarów twardości oraz modułu Young’a (nanoindenter skanujący ostrzem Berkovivch’a lub ostrzem płaskim). Nanoindenter wyposażony jest dodatkowo w dynamiczny tryb pracy – nanoDMA.