Aparatura
Mikroskop sił atomowych sprzężony z nanoindenterem
Osoba kontaktowa:
Szuwarzyński Michał
Opis techniczny:
Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop pracujący w układzie skanowania sondą. Maksymalny obszar skanowania wynosi 90×90 μm w zakresie poziomym i do 10 μm w zakresie pionowym. Mikro…
Mikroskop ze skanującą sondą (Mikroskop sił bliskiego zasięgu)
Osoba kontaktowa:
Cieniek Łukasz
Opis techniczny:
Tryby pracy: AFM – mikroskop sił atmowych LFM – mikroskop sił poprzecznych MFM – mikroskop sił magnetycznych EFM – mikroskop sił elektrycznych PeakForce QNM - obrazowanie własności nano-mechanicznych na podstawie analizy krzy…
