Aparatura

Mikroskop ze skanującą sondą (Mikroskop sił bliskiego zasięgu)

Jednostka: Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej

Opis techniczny: Tryby pracy: AFM – mikroskop sił atmowych LFM – mikroskop sił poprzecznych MFM – mikroskop sił magnetycznych EFM – mikroskop sił elektrycznych PeakForce QNM - obrazowanie własności nano-mechanicznych na podstawie analizy krzy…

Słowa kluczowe: AFM EFM LFM MFM