Mikroskop ze skanującą sondą (Mikroskop sił bliskiego zasięgu)
Tryby pracy: AFM – mikroskop sił atmowych LFM – mikroskop sił poprzecznych MFM – mikroskop sił magnetycznych EFM – mikroskop sił elektrycznych PeakForce QNM - obrazowanie własności nano-mechanicznych na podstawie analizy krzywych siłowych Obszar analizy XY od max 100 μm x 100 μm do min kilka nm x kilka nm Zakres analizy w kierunku Z do max 9.5 μm Rozdzielczość analizy max do 1 nm w zależności od użytej sondy i trybu pracy.
W ramach umów i zleconych zadań badawczych/upoważnienie kierownika Katedry IPiAM
Wyznaczanie topografii powierzchni 3D (par. chropowatości) - AFM Obrazowanie rozkładu: • mikrobszarów o różnym współczynniku tarcia – LFM • mikrodomen magnetycznych – MFM • mikrobszarów o odmiennych własnościach elektrycznych – EFM • różnym sposobie oddziaływania mechanicznego badanej powierzchni z ostrzem sondy: adhezja, odkształcenie, moduł Younga.
Wyznaczanie topografii powierzchni 3D (par. chropowatości) - AFM Obrazowanie rozkładu: • mikrobszarów o różnym współczynniku tarcia – LFM • mikrodomen magnetycznych – MFM • mikrobszarów o odmiennych własnościach elektrycznych – EFM • różnym sposobie oddziaływania mechanicznego badanej powierzchni z ostrzem sondy: adhezja, odkształcenie, moduł Younga.
Jednostka odpowiedzialna
Grupa / laboratorium / zespół
Laboratorium badań własności materiałów, KIPiAM https://kipiam.agh.edu.pl/