ScatterX78

Komora ScatterX78 umożliwia jednoczesny pomiar w próżni SAXS i WAXS. Pomiar możliwy jest już dla rozmiarów obiektów od 1 nm w wymiarach 1D i 2D. Dodatkowo zaproponowane rozszerzenie aparatury badawczej pozwala na prowadzenie badań metodą dyfrakcji przy stałym kącie padania promieniowania (GIXD). Przystawka pozwala na przeprowadzenie nieniszczącej analizy właściwości materiałów, geometrii i uporządkowania obiektów (amorficznych, krystalicznych) w nanoskali w postaci cieczy, żelów, proszków, ciał stałych (w tym porowatych) czy układów wielowarstwowych o grubości rzędu nm. Co więcej zastosowana przystawka służy do określania szczegółów budowy krystalicznej polimerów, czy identyfikacji odmian polimorficznych, a także śledzenia przejść jednej odmiany krystalograficznej w drugą wywołanych różnymi czynnikami. Wśród układów analizowanych metodami SAXS/WAXS znajdują się m.in. nanocząstki, nanowielowarstwy, roztwory nanocząstek (półprzewodnikowych, magnetycznych, itp.), plastyczne układu hybrydowe z nanocząstkami.