Skaningowy mikroskop elektronowy, SEM
MERLIN z kolumną GEMINI II i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (AsB), 3DSM i STEM. Ustawienia obrazowania optyki Gemini II, takie jak napięcie przyspieszające lub prąd wiązki, można płynnie regulować. Równoległa detekcja elektronów wtórnych (SE) w osi soczewki obiektywowej oraz selektywne energetycznie rozproszenie wsteczne (EsB) pozwala z łatwością zidentyfikować najmniejsze różnice w składzie chemicznym materiałów. Mikroskop wyposażony jest w detektor EDX z systemem mikroanalizy Quantax 800 (Bruker) oraz detektor EBSD z systemem mikroanalizy Quantax CrystAlign 400 (Bruker).
Na warunkach uzgodnionych z Kierownikiem laboratorium - dr hab. inż. Adam Kruk, prof. AGH
InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective back-scattered detector (AsB), 3DSM, STEM, SEM-EDX, SEM-EBSD
Badania składu chemicznego, wysoka rozdzielczość, pomiary orientacji w nanoskali
Jednostka odpowiedzialna