Mikroskop elektronowy skaningowy FEI Quanta 200 FEG

Nazwa handlowa
Mikroskop elektronowy skaningowy FEI Quanta 200 FEG
Opis techniczny

Wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z gorącą emisją polową (FEG - wysokostabilny emiter elektronów Schottky'ego), zapewniający: możliwość obserwacji w zmiennej próżni, powiększenia 70 ÷ 300 000x, zdolność rozdzielczą ok. 2 nm.

Parametry techniczne:

  • Napięcie przyspieszające 5 – 30 kV
  • System zmiennej próżni:

- wysoka próżnia (HV)  ok. 10-4 Pa - preparaty przewodzące

- niska próżnia (LV)  50÷200 Pa - preparaty przewodzące i nie przewodzące

- tryb ESEM 200÷2000 Pa - preparaty przewodzące i nie przewodzące

  • Rozdzielczość:

<  2,0nm przy 30kV (HV)

<  3,5nm przy 30kV (LV)

<  2,0nm przy 30kV (ESEM)

Detektory:

  • SED Everharta-Thornleya
  • SED (do LV)
  • SED (do ESEM)
  • BSED (Si solid-state)
  • BSED (do ESEM)
  • Centaurus – fotopowielacz z końcówkami do detekcji BSE i CL
  • EBSD (do rejestracji dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych)
  • Krzemowy, chłodzony ciekłym azotem, detektor promieniowania rentgenowskiego ze spektrometrem EDS (EDAX)
Warunki udostępniania infrastruktury

- zgodnie z regulaminem zamieszczonym na stronie laboratorium: http://wydzlab.agh.edu.pl/wp-content/uploads/2020/11/Regulamin-WLBFSTiG.pdf
- współpraca naukowo-badawcza z jednostkami AGH i innymi krajowymi i zagranicznymi jednostkami naukowymi
- współpraca w ramach projektów NCN, NCBiR i w ramach umów z przemysłem

Rodzaj akredytacji / certyfikatu:
Nie dotyczy
Rodzaj dostępu
Zewnętrzna
Możliwości badawcze
  • obserwacja powierzchni substancji mineralnych, syntetycznych i biologicznych
  • analiza jakościowa i ilościowa pierwiastków w próbce (EDXS)
  • analiza dystrybucji pierwiastków w mikroobszarze (EDXS)
  • analiza obrazów w katodoluminiscencji CL  - w trybie stopni szarości
  • analiza dyfrakcji Kikuchiego (EBSD) - identyfikacja fazowa i mapy orientacji krystalitów OIM
Data ostatniej aktualizacji
10 czerwca 2023 23:02
Rok wprowadzenia do użytkowania
2005
Możliwości pomiarowe

Rejestracja, w zmiennej próżni, obrazów generowanych przez:

  • elektrony wtórne SD – kontrast topograficzny
  • elektrony wstecznie rozproszone BSE – kontrast różnicy Z i orientacyjny
  • charakterystyczne promieniowanie rentgenowskie pierwiastków - mapowanie
  • promieniowanie w zakresie widzialnym – katodoluminecencja CL
  • EBSD - dyfrakcja Kikuchiego
Zdjęcia
Elektronowy mikroskop skaningowy SEM
Elektronowy mikroskop skaningowy SEM