Aparatura
Spektrometr odwrotnej fotoemisji LEIPS
Osoba kontaktowa:
Marzec Mateusz
Opis techniczny:
Spektrometr odwrotnej fotoemisji LEIPS (Low Energy Inverse Photoemission Spectroscopy) pozwala wyznaczyć strukturę elektronową nieobsadzonych poziomów energetycznych pasma przewodnictwa materiałów półprzewodnikowych. Jego zasada…
Spektrometr fotoelektronów XPS
Osoba kontaktowa:
Marzec Mateusz
Opis techniczny:
Spektrometr fotoelektronów emitowanych pod wpływem naświetlania promieniowaniem rentgenowskim (XPS) lub ultrafiloteowym (UPS) służy do analizy składu i stanów chemicznych pierwiastków na powierzchni badanego materiału. Laborator…
