Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50
Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SED) 1,0 nm przy 15 kV (SED) Niska próżnia: - 10 nm przy 30kV (SED) - 3 nm przy 3 kV (SED) Bezolejowy system pompowy.
W ramach umów i zleconych zadań badawczych/upoważnienie kierownika Katedry IPiAM.
Badania morfologii i składu chemicznego próbek nieprzewodzących w niskiej i zmiennej próżni, Analiza topografii orientacji materiałów drobnokrystalicznych z pełną identyfikacją fazową, Analizy punktowe, liniowe oraz powierzchniowe pierwiastków z wykorzystaniem spektrometrów EDXS i WDXS, Analiza orientacji krystalograficznych z wykorzystaniem dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych EBSD
Jednostka odpowiedzialna
Grupa / laboratorium / zespół
Laboratorium skaningowej mikroskopii elektronowej KIPiAM https://kipiam.agh.edu.pl/