Zestaw do mikroskopii skaningowej
Mikroskopy SEM z kolumnami elektronowymi (FEG) oraz jonową, galową – Scios 2. Do oprzyrządowania należą spektroskopy EDS (EDAX), katodoluminescencyjny (GATAN AMETEK) oraz masowy jonów wtórnych z pomiarem czasu przelotu – TOF-SIMS. Urządzenia posiadają szeroki wachlarz detektorów półprzewodnikowych i scyntylacyjnych, w tym między innymi detektor do trybu STEM. Zawierają optykę elektrostatyczną i magnetyczną. Scios 2 ma możliwość mikroobróbki wiązką jonów galu, w tym wytwarzania preparatów dla TEM, tzw. lamel, posiada również detektory jonów wtórnych a także możliwość wizualizacji z użyciem elektronów emitowanych pod wpływem oddziaływania z wiązką jonów pierwotnych. Apreo 2 jest wyposażony w detektor EBSD oraz tryb ECCI (kontrast kanałowania elektronów). Oba urządzenia mają również możliwość pracy w niskiej próżni, 10 – 500 Pa.
Praca wyłącznie za pośrednictwem operatora będącego pracownikiem Wydziałowego Laboratorium Mikroskopii Skaningowej i Mikroanalizy WIMiC. Zlecenie/ umowa/inna forma współpracy po uzgodnieniu.
Wizualizacja mikrostruktury w tym w kontraście orientacyjnym, mapowanie pierwiastków, pomiary właściwości optycznych i struktury elektronowej (CL), pomiary struktury w skali komórki elementarnej (EBSD) i obrazowanie defektów struktury (np. dyslokacji), mikroobróbka, obrazowanie 3D.
Napięcie przyspieszające elektronów 0,2 – 30 kV; 0,5 – 30 kV dla jonów. ”Landing Energy” 20eV do 30 keV. Prąd wiązki elektronów 1 pA do 50 nA. Prąd wiązki jonów 1,5 pA do 65 nA. EDS od Be (rozd. 129 eV). TOF-SIMS do 500 u. Standardowy WD 7 i 10 mm. Próżnia w komorze do 7x10-6 Pa (HVac) lub 10 – 500 Pa (LVac). Maksymalna średnica próbki 122 mm, standardowa 5 mm. Pochylenie stolika -15/+90o.
Jednostka odpowiedzialna