Aparatura
System do wysokorozdzielczej litografii elektronowej
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
W pomieszczeniu czystym klasy 100 znajduje się urządzenie do litografii elektronowej (Raith eLine+). Układ składa się z działa elektronowego, detektora elektronów wtórnych, detektora in-lens, interferometru laserowe…
Mikroskop metalograficzny (clean room) Nikon Eclipse LV150N
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
Mikroskop świetlny (LM) umożliwia obrazowanie w świetle odbitym w jasnym polu (BF), ciemnym polu (DF), świetle spolaryzowanym (POL) oraz kontraście interferencyjnym tzw. kontraście Nomarskiego (DIC). Posiada w pełni zmotoryzowany stolik (X,Y,Z), poz…
Chłodziarka rozcieńczalnikowa z magnesem
Osoba kontaktowa:
Chrobak Maciej
Opis techniczny:
Chłodziarka rozcieńczalnikowa 3He/4He pracująca w cyklu zamkniętym pozwala na osiągnięcie i ustabilizowanie temperatur w zakresie od 10 mK do 30 K. Moc chłodząca w temperaturze 100 mK wynosi 200 µW, a w 20 mK 4 µW. Zintegrowany magnes na…
System Pulsacyjnej Ablacji Laserowej
Osoba kontaktowa:
Naumov Andrii
Opis techniczny:
System umożliwia wytwarzanie cienkich warstw o określonym składzie stechiometrycznym lub przesyconym o grubości od kilku nanometrów do paru mikrometrów, na różnorodnych podłożach (metalicznych, ceramicznych, polimerowych). Podło…
Analizator sorpcji gazów
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
Analizator sorpcji umożliwia określenie ilości zabsorbowanego przez próbkę gazu, w kontrolowanych warunkach ciśnienia i temperatury, przy zastosowaniu metody wolumetrycznej Sieverts'a. Może być wykorzystywany do analizy sorpcji H2, CO2, C…
Profilometr do pomiarów warstw o wymiarach nanometrycznych
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
Profilometr igłowy stykowy służący badaniu chropowatości oraz falistości powierzchni z rozdzielczością 1 A oraz powtarzalnością na poziomie 4 A≤ (angstrem).
System do trawienia jonowego i nanoszenia warstw
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
W pomieszczeniu czystym klasy 1000 znajduje się urządzenie do trawienia jonowego i nanoszenia cienkich warstw Microsystems IonSys 500. System jest wyposażony w działo jonowe wraz z detektorem SIMS, który umożliwia trawien…
Zintegrowany System Pomiarów Mossbauerowskich
Osoba kontaktowa:
Cieślak Jakub
Opis techniczny:
Standardowy tor spektrometryczny z detektorem proporcjonalnym (ksenonowym) z oprogramowaniem.
Kaseta NIM z zasilaczem
Detektor proporcjonalny, ksenonowy, w osłonie z blach ołowianych
Zasilacz wysokiego napięcia Wzmacniacz i dyskryminator K…
Magnetometr VSM z kriostatem
Osoba kontaktowa:
Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny:
Magnetometr wibracyjny, typ 7407 firmy LakeShore, wuposażony w kriostat i piec pozwala na pomiar namagnesowania w funkcji temperatury (w zakresie od temperatury ciekłego azotu do 1000 ºC), w funkcji zewnętrznego pola magnetycznego (do 2.5 Tesla…
Mikroskop sił atomowych sprzężony z nanoindenterem
Osoba kontaktowa:
Szuwarzyński Michał
Opis techniczny:
Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop pracujący w układzie skanowania sondą. Maksymalny obszar skanowania wynosi 90×90 μm w zakresie poziomym i do 10 μm w zakresie pionowym. Mikro…
