Aparatura
Liniowy skaner rentgenowski
Jednostka:
Katedra Inżynierii Gazowniczej
Osoba kontaktowa:
Dąbrowski Karol
Opis techniczny:
Aparatura składa się głównie z grubej, izolującej promieniowanie obudowy ze stali nierdzewnej, sterowanego komputerowo generatora promieniowania rentgenowskiego umożliwiającego użytkownikowi regulację natężenia promieniowania rentgenowskiego,…
IFT Cell 1000
Jednostka:
Katedra Inżynierii Gazowniczej
Osoba kontaktowa:
Dąbrowski Karol
Opis techniczny:
Wysokociśnieniowa komórka badawcza wg certyfikatu CE zgodnie z PED 2014/68/EU. Możliwość pomiaru dla ciśnień do 1000 bar i 200 °C. System obrotowy dla kąta zwilżania - pomiar między cieczą, a skałą, próbka (płyta skalna &Oslas…
Spektrometr absorpcji atomowej AAS
Jednostka:
Katedra Mineralogii, Petrografii i Geochemii
Osoba kontaktowa:
Bajda Tomasz
Opis techniczny:
Spektrometr absorpcji atomowej AAS do analiz składu chemicznego roztworów - pierwiastki od Li do U.
Spektrometr posiada funkcje takie jak programowalna skrzynka gazowa, 8 lamp z automatycznym ustawieniem lamp, optymalizacją długości fali i…
Radar interferometryczny IBIS-L/S
Jednostka:
Katedra Geodezji Inżynieryjnej i Budownictwa
Osoba kontaktowa:
Kuras Przemysław
Opis techniczny:
Naziemny radar interferometryczny IBIS-L/S to precyzyjne mikrofalowe urządzenie pomiarowe, służące do zdalnego, bezdotykowego pomiaru przemieszczeń i deformacji obiektów budowlanych oraz powierzchni terenu z wysoką dokładnością. Główny…
Nanotwardościomierz i Nano-Scratch Tester firmy CSM Instruments
Osoba kontaktowa:
Radziszewska Agnieszka
Opis techniczny:
Nanotwardościomierz: Urządzenie służy do pomiaru twardości materiałów o drobnokrystalicznej strukturze, cienkich warstw. Wykonywanie pomiarów pojedynczych i cyklicznych. Możliwość nanoszenia obciążenia od 0,05 mN do 500 mN. Wyposażone …
Zestaw do jonowego polerowania i trawienia materiałów
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Działo jonów Ar typu Penning, pracujące przy napięciu w zakresie od 0kV do 6kV Możliwość obserwacji próbki podczas procesu polerowania i cięcia przy użyciu stereoskopu Zakres polerowania próbek: średniacy 50 mm, wysokość 25 mm T…
Skaningowy mikroskop elektronowy Nova Nano SEM 450
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…
Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…
Skaningowy kalorymetr różnicowy
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Konstrukcja dwupiecowa Zasada pomiaru : Kompensacyjna Materiał pieca: 90% stopu platyny Czujniki temperatury: Rozproszone, platynowe termometry oporowe Zakres -180˚C do 750˚C Dokładność ±0,05˚C Pecyzja ±0,008˚C Punkty danych/s 33…
Mikroskop ze skanującą sondą (Mikroskop sił bliskiego zasięgu)
Osoba kontaktowa:
Cieniek Łukasz
Opis techniczny:
Tryby pracy: AFM – mikroskop sił atmowych LFM – mikroskop sił poprzecznych MFM – mikroskop sił magnetycznych EFM – mikroskop sił elektrycznych PeakForce QNM - obrazowanie własności nano-mechanicznych na podstawie analizy krzy…
