Aparatura
Stanowisko do pomiaru oporu cienkich warstw metodą czteropunktową w zewnętrznym polu magnetycznym
Osoba kontaktowa:
Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny:
Urządzenie Nanometer 1.0 umożliwia pomiar oporu i charakterystykę prądowo-napieciową cienkich warstw metodą czteropunktową w zakresie od mOhm do MOhm. Możliwe jest również pomiar magnetooporu, poprzez przyłożenie małego pola magnetycznego 50 …
Advanced Resistivity System 300 - zestaw do pomiaru oporności
Jednostka:
Katedra Geofizyki
Osoba kontaktowa:
Puskarczyk Edyta
Opis techniczny:
Przeznaczenie: zestaw do pomiarów elektrycznej oporności właściwej cieczy i ciał stałych (rdzeni), pomiary przy różnych nasyceniach umożliwiają wyznaczenie parametru porowatości, parametru nasycenia, współczynnika wysortowania, …
