Aparatura
Stanowisko do pomiaru oporu cienkich warstw metodą czteropunktową w zewnętrznym polu magnetycznym
Osoba kontaktowa:
Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny:
Urządzenie Nanometer 1.0 umożliwia pomiar oporu i charakterystykę prądowo-napieciową cienkich warstw metodą czteropunktową w zakresie od mOhm do MOhm. Możliwe jest również pomiar magnetooporu, poprzez przyłożenie małego pola magnetycznego 50 …
Elipsometr spektroskopowy
Osoba kontaktowa:
Mazur Tomasz
Opis techniczny:
Elipsometr spektroskopowy SER-850 jest urządzeniem działającym w zakresie od ultrafioletu do bliskiej podczerwieni, służącym do pomiaru grubości oraz podstawowych właściwości optycznych cienkich warstw oraz struktur wielowarstwowych. Urządzenie pozw…
