Aparatura
Polerka jonowa i napylarka
Jednostka:
Katedra Fizyki Materii Skondensowanej
Osoba kontaktowa:
Wroński Sebastian
Opis techniczny:
Kluczowym czynnikiem, który decyduje o jakości otrzymanych obrazów w technice mikroskopii elektronowej SEM jest odpowiednie przygotowanie próbek. Na ogół przygotowuje się zgłady poprzez szlifowanie, polerowania oraz trawi…
Skaningowy mikroskop elektronowy JEOL JSM-6490LA
Jednostka:
Katedra Fizyki Materii Skondensowanej
Osoba kontaktowa:
Wroński Sebastian
Opis techniczny:
Skaningowy mikroskop elektronowy JEOL JSM-6490LA wyposażony w kolumnę mikroskopową z wysokoemisyjną katodą LaB6 oraz linią pompującą zawierającą pompę jonową. Mikroskop posiada detektor elektorów wtórnych (SE: Secondary Electrons), ele…
