Aparatura
Zestaw do jonowego polerowania i trawienia materiałów
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Działo jonów Ar typu Penning, pracujące przy napięciu w zakresie od 0kV do 6kV Możliwość obserwacji próbki podczas procesu polerowania i cięcia przy użyciu stereoskopu Zakres polerowania próbek: średniacy 50 mm, wysokość 25 mm T…
Skaningowy mikroskop elektronowy Nova Nano SEM 450
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…
Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…
Skaningowy kalorymetr różnicowy
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Konstrukcja dwupiecowa Zasada pomiaru : Kompensacyjna Materiał pieca: 90% stopu platyny Czujniki temperatury: Rozproszone, platynowe termometry oporowe Zakres -180˚C do 750˚C Dokładność ±0,05˚C Pecyzja ±0,008˚C Punkty danych/s 33…
