Aparatura
Skaningowy mikroskop elektronowy Nova Nano SEM 450
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Kopyściański Mateusz
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…
      
    Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Kopyściański Mateusz
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…
      
    Skaningowy kalorymetr różnicowy
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Kopyściański Mateusz
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Konstrukcja dwupiecowa Zasada pomiaru : Kompensacyjna Materiał pieca: 90% stopu platyny Czujniki temperatury: Rozproszone, platynowe termometry oporowe Zakres -180˚C do 750˚C Dokładność ±0,05˚C Pecyzja  ±0,008˚C Punkty danych/s 33…
      
    Zespół urządzeń ciągarka ławowa - walcarka skośna
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Błoniarz Remigiusz
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Zespół urządzeń ze wspólny  napędem opartym o silnik o mocy 67 kW. Moment jest przekazywany za pośrednictwem sprzęgieł rozłącznych najedno z urządzeń: ciągarkę ławową lub walcarkę skośną. Ciągarka ławowa umożliwia ciągnienie pręt&…
      
    Mikroskop ze skanującą sondą (Mikroskop sił bliskiego zasięgu)
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Cieniek Łukasz
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Tryby pracy: AFM – mikroskop sił atmowych LFM – mikroskop sił poprzecznych MFM – mikroskop sił magnetycznych EFM – mikroskop sił elektrycznych PeakForce QNM - obrazowanie własności nano-mechanicznych na podstawie analizy krzy…
      
    Indukcyjny piec próżniowy
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Drożdż Paweł
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Indukcyjny piec próżniowy służy do topienia i odlewania stopów żelaza w warunkach próżniowych o masie do 10 kg (a po wymianie cewki do 25 kg). Składa się z jednej komory topienia, w której zainstalowany jest tygiel wraz z…
      
    Zwick Z250
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Błoniarz Remigiusz
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Maszyna wytrzymałościowa służy to precyzyjnego wyznaczania własności materiałów w warunkach quasi-statycznych. Pozwala na przeprowadzanie testów materiałowych w warunkach jednoosiowego rozciągania, jednoosiowego ściskania oraz w pr&oac…
      
    Wgłębne centrum elektroerozyjne wraz z systemem pomiarowym
        Jednostka:
        
          
            Katedra Systemów Wytwarzania
          
          
            
          
        
      
      
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Zagórski Krzysztof
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Przedmiotowe stanowisko służy do realizacji kompleksowych badań laboratoryjnych związanych z procesem elektrodrążenia wgłębnego oraz przeprowadzania pomiarów wielkości charakteryzujących wymiary wytworzonych elementów w trybie CNC. Na …
      
    ELEKTRONOWY MIKROSKOP SKANINGOWY Z EDS I EBSD
        Jednostka:
        
          
            Wydział Odlewnictwa
          
          
            
          
        
      
      
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Garbacz-Klempka Aldona
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        SKANINGOWY MIKROSKOP ELEKTRONOWY - Tescan MIRA4 GMU z wyposażeniem. -Źródło elektronów – emiter polowy (Schottky) o wysokiej jasności, -Płynna regulacja prądu wiązki w zakresie od 2 pA do 400 nA, -Komora typu GM umożliwiająca umi…
      
    SMART- Special device for Measurements in support of Advanced Research at High-Temperature
        Jednostka:
        
          
            Wydział Odlewnictwa
          
          
            
          
        
      
      
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Sobczak Jerzy
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Autorskie i opatentowane urządzenie SMART składa się z następujących elementów: -wysokotemperaturowej komory badawczej, -zespołu kapilarnego dozowania ciekłego metalu (mechanizm kroplówki), -komory załadowczej (do 6 próbek), -ma…
      
     
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
      