Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Dyfraktometr rentgenowski z przystawką SAXS/WAXS

Opis techniczny: Dyfraktometr proszkowy Panalytical Empyrean z lampą Cu. Pozwala prowadzić pomiary w geometrii wiązki Bragg-Brentano z użyciem szczelin kolimacyjnych oraz w geometrii wiązki równoległej (lustro Goebla). Dyfraktometr wyposażony  w wysokocz…

Dyfraktometr rentgenowski z przystawką wysokotemperaturową

Opis techniczny: Dyfraktometr proszkowy Panalytical Empyrean z lampą Co. Pozwala prowadzić pomiary w geometrii wiązki Bragg-Brentano z użyciem szczelin kolimacyjnych oraz w geometrii wiązki równoległej (lustro Goebla). Wyposażony są w wysokoczuły detektor (PI…

Maszyna wytrzymałościowa Instron 5982

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Maksymalne obciążenie 100 kN. Wysokość przestrzeni roboczej 1430 mm. Dokładność pomiaru siły +/- 0.5% odczytu w dół do 1/500 zakresu głowicy pomiarowej (głowicy pomiarowej serii 2580). Akwizycja danych z częstotliwością próbkowania do …

Nanoindenter in-situ FT-NMT04

Osoba kontaktowa: Kawałko Jakub
Opis techniczny: Nanoindenter in-situ FT-NMT04 umożliwia prowadzenie szeregu testów mikro-mechanicznych w połączeniu z jednoczesną obserwacją testowanej próbki w komorze elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM): Nanoindentację Testy ściskania mikro-…

Tribometr trzpień-tarcza TRB³ Anton Paar

Osoba kontaktowa: Gajewska Marta
Opis techniczny: Urządzenie pozwala na badanie właściwości tribologicznych szerokiej gamy materiałów w różnych trybach: ruchu (liniowy, posuwisto-zwrotny), styku (trzpień, kula), prędkości i  smarowania. Tribometr charakteryzują następujące par…

Transmisyjny mikroskop elektronowy (TEM) Tecnai TF 20 X-TWIN (FEI)

Osoba kontaktowa: Gajewska Marta
Opis techniczny: Tecnai TF 20 X-TWIN (200 kV) jest wysokorozdzielczym transmisyjnym mikroskopem elektronowym wyposażonym w działo elektronowe z emisją polową (Field Emission Gun - FEG). Mikroskop umożliwia obrazowanie mikrostruktury szerokiej gamy materiałów …

Nanoindenter G200 Agilent - KLA

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Urządzenie do badania twardości oraz modułu Younga w skali nanometrowej, o zakresie obciążeń do 9.8 N (w trybie High load). Wyposażone w moduł CSM (Continous Stiffness Measurement) pozwalający na ciągły pomiar modułu Younga oraz twardości w fun…

Maszyna wytrzymałościowa INSTRON 600DX

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Maksymalne obciążenie – 600 kN. Zakres prędkości roboczych od 0.1 do 76 mm/min. Tensometryczne głowice pomiarowe 100 i 600 kN o klasie dokładności pomiarowej 0.5 i liniowości minimum +/- 0.25 % wartości zmierzonej w przedziale 0.4 % do 10…

Maszyna wytrzymałościowa INSTRON 5966

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Maksymalne obciążenie 10 kN. Wyposażona dodatkowo w głowicę do 1 kN oraz szczęki pneumatyczne z zestawem wkładek (np. do badania taśm).

Mikroskop metalograficzny Nikon Eclipse LV150N

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Mikroskop świetlny (LM) umożliwia obrazowanie w świetle odbitym w jasnym polu (BF), ciemnym polu (DF), świetle spolaryzowanym (POL) oraz kontraście interferencyjnym tzw. kontraście Nomarskiego (DIC). Posiada w pełni zmotoryzowany stolik (X,Y,Z), poz…