Aparatura
Zintegrowany System Pomiarów Mossbauerowskich
Osoba kontaktowa:
Cieślak Jakub
Opis techniczny:
Standardowy tor spektrometryczny z detektorem proporcjonalnym (ksenonowym) z oprogramowaniem.
Kaseta NIM z zasilaczem
Detektor proporcjonalny, ksenonowy, w osłonie z blach ołowianych
Zasilacz wysokiego napięcia Wzmacniacz i dyskryminator K…
Magnetometr VSM z kriostatem
Osoba kontaktowa:
Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny:
Magnetometr wibracyjny, typ 7407 firmy LakeShore, wuposażony w kriostat i piec pozwala na pomiar namagnesowania w funkcji temperatury (w zakresie od temperatury ciekłego azotu do 1000 ºC), w funkcji zewnętrznego pola magnetycznego (do 2.5 Tesla…
Chromatograf gazowy GC-MS/TCD – Shimadzu GCMS-QP2020(EI)
Osoba kontaktowa:
Mech Krzysztof
Opis techniczny:
Chromatograf gazowy wyposażony w detektory MS oraz TCD, umożliwiający analizę jakościową oraz ilościową składu fazy gazowej.
Konfiguracja:
MS – gaz nośny: He, kolumna: Agilent J&W HP-PLOT/U; l=30m; d=0.53 mm, zakres temperatury: 60 &…
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją falową (WD-XRF) Rigaku ZSX Primus IV
Osoba kontaktowa:
Mech Krzysztof
Opis techniczny:
ZSX Primus IV to spektrometr XRF z dyspersją długości fali do jakościowej, półilościowej i ilościowej analizy pierwiastków. Jest w stanie wykrywać pierwiastki od Be do U.
Specyfikacja:
Zakres analizowanych pierwiastków: Be…
Spektrometr fotoelektryczny
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Układ pomiarowy złożony z cyfrowo sterowanego źródła światła (lampa ksenonowa XBO150, monochromator, zestaw filtrów krawędziowych, migawka, układ stabilizacji natężenia światła), kalibrowanej fotodiody, dedykowanego potencjostatu oraz …
System do analizy półprzewodników Keithley 4200-SCS
Osoba kontaktowa:
Mazur Tomasz
Opis techniczny:
System pomiarowy Keithley 4200-SCS jest modularnym, zintegrowanym rozwiązaniem pomiarowym przeznaczonym do badań materiałów, elementów półprzewodnikowych oraz związanych z nimi procesów. Urządzenie zapewnia pełną charakte…
Spektrometr FTIR do pomiarów widm w podczerwieni
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Spektrometr FTIR Tensor II firmy Bruker wyposażony jest w:
przystawkę do pomiarów osłabionego całkowitego odbicia ATR ( Attenuated Total Reflectance) z monolitycznym kryształem diamentowym umożliwiającą pomiar w zakresie 350-8000 cm-1, …
Próżniowy system do nanoszenia cienkich warstw i wytwarzania nanocząstek
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
Stanowisko laboratoryjne składa się z dwóch próżniowych komór procesowych firmy Mantis, spełniających standardy wysokiej próżni (HV). Pierwsza komora procesowa służy do nanoszenia jednoczesnego lub sekwencyjnego wieloskła…
Napylarka Leica EM ACE600
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
Wysokopróżniowa napylarka Leica EM ACE600 do napylania cienkich warstw z dwóch źródeł różnych metali. W skład układu wchodzą:
wewnętrzna, zintegrowana z systemem membranowa, bezolejowa pompa próżniowa oraz po…
Układ nanomanipulatorów miBot
Osoba kontaktowa:
Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny:
Układ dwóch nanomanipulatorów typu miBot firmy IMINa, kompatybilny ze skaningowym mikroskopem elektronowo-jonowym VERSA 3D, umożliwia pomiary oporu in-situ w trakcie procesu nanostrukturyzacji oraz manipulację pojedynczymi sub-mikronow…
