Aparatura
Spektrometr FTIR do pomiarów widm w podczerwieni
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Podborska Agnieszka
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Spektrometr FTIR Tensor II firmy Bruker wyposażony jest w:
	przystawkę do pomiarów osłabionego całkowitego odbicia ATR ( Attenuated Total Reflectance) z monolitycznym kryształem diamentowym umożliwiającą pomiar w zakresie 350-8000 cm-1, …
      
    Próżniowy system do nanoszenia cienkich warstw i wytwarzania nanocząstek
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Jabłoński Piotr
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Stanowisko laboratoryjne składa się z dwóch próżniowych komór procesowych firmy Mantis, spełniających standardy wysokiej próżni (HV). Pierwsza komora procesowa służy do nanoszenia jednoczesnego lub sekwencyjnego wieloskła…
      
    Napylarka Leica EM ACE600
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Jabłoński Piotr
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Wysokopróżniowa napylarka Leica EM ACE600 do napylania cienkich warstw z dwóch źródeł różnych metali. W skład układu wchodzą:
	wewnętrzna, zintegrowana z systemem membranowa, bezolejowa pompa próżniowa oraz po…
      
    Spektrometr mössbauerowski
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Bilovol Vitaliy
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Nowej generacji cyfrowy spektrometr mössbauerowski MS-4 firmy Renon  zawiera blok detekcji promieniowania obejmujący głowicę detekcyjną, blok jądrowy oraz bloki kontroli wibratora i kontroli systemu. Jest wyposażony w laserowy kalibra…
      
    Laserowy dwuwiązkowy - spektrometr fotoelektryczny
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Podborska Agnieszka
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Źródło światła: dwa lasery Opolette 355 z pompą Nd:YAG wyposażoną w optyczne oscylatory parametryczne (OPO) przestrajalne w zakresie 210-2400 nm o szczytowej mocy impulsu rzędu 500 kW.
Układ detekcji: elektrochemiczna stacja robocza Z…
      
    Naświetlarka diodowa
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Podborska Agnieszka
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Naświetlarka diodowa to urządzenie sterujące diodami LED o mocy do 100 mW. Zestaw diod obejmuje LEDy o długościach światła: 365, 385, 405, 460, 510, 530, 620, 660, 735, 860, 940 nm, a także diody światła białego (3000K, 4000K, 10 000K). Urządzenie p…
      
    Spektrofotometr UV-Vis-NIR Lambda 750 PerkinElmer
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Podborska Agnieszka
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Spektrofotometr UV-Vis Lambda 750 Spektrometr posiada dwie komory pomiarowe umożliwiające pomiar próbek ciekłych oraz ciał stałych. Wyposażony jest w sferę całkująca o średnicy 60 mm do pomiarów współczynnika odbicia (reflektanc…
      
    Analizator impedancji BioLogic MTZ-35
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Mech Krzysztof
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        BioLogic MTZ-35 to analizator impedancji umożliwiający prowadzenie pomiarów w szerokim zakresie częstotliwości (10 µHz – 35  MHz). Analizator charakteryzuje się bardzo wysoką dokładnością pomiarową (0.1% amplitudy, 0.05% fazy…
      
    Spektrometr odwrotnej fotoemisji LEIPS
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Marzec Mateusz
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Spektrometr odwrotnej fotoemisji LEIPS (Low Energy Inverse Photoemission Spectroscopy) pozwala wyznaczyć strukturę elektronową nieobsadzonych poziomów energetycznych pasma przewodnictwa materiałów półprzewodnikowych. Jego zasada…
      
    Spektrometr fotoelektronów XPS
        Osoba kontaktowa:
        
          
            Marzec Mateusz
          
          
            
          
        
      
      
        Opis techniczny:
        Spektrometr fotoelektronów emitowanych pod wpływem naświetlania promieniowaniem rentgenowskim (XPS) lub ultrafiloteowym (UPS) służy do analizy składu i stanów chemicznych pierwiastków na powierzchni badanego materiału. Laborator…
      
     
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
       
          
        
      