Aparatura
Układ do ultraszybkiej spektroskopii stanów wzbudzonych w zakresie od ultrafioletu do podczerwieni
Osoba kontaktowa:
Szaciłowski Konrad
Opis techniczny:
enVISion™ zapewnia szerokopasmową nanosekundową spektroskopię absorpcji przejściowej, która płynnie mierzy widmo w zakresie UV, widzialnym i bliskiej podczerwieni z rozdzielczością czasową 5 ns i czasem opóźnienia do milisekund. …
Potencjostaty/galwanostaty Biologic SP-300
Osoba kontaktowa:
Mech Krzysztof
Opis techniczny:
Dwukanałowe potencjostaty/galwanostaty BioLogic SP-300 umożliwiają wykonanie podstawowych pomiarów elektorchemicznych, badań właściwości elektrokatalitycznych, korozyjnych, analizę kinetyki oraz mechanizmu reakcji elektrodowych jak rów…
Spektrofotometr UV-Vis-NIR Lambda 750 PerkinElmer
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Spektrofotometr UV-Vis Lambda 750 Spektrometr posiada dwie komory pomiarowe umożliwiające pomiar próbek ciekłych oraz ciał stałych. Wyposażony jest w sferę całkująca o średnicy 60 mm do pomiarów współczynnika odbicia (reflektanc…
Naświetlarka diodowa
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Naświetlarka diodowa to urządzenie sterujące diodami LED o mocy do 100 mW. Zestaw diod obejmuje LEDy o długościach światła: 365, 385, 405, 460, 510, 530, 620, 660, 735, 860, 940 nm, a także diody światła białego (3000K, 4000K, 10 000K). Urządzenie p…
Laserowy dwuwiązkowy - spektrometr fotoelektryczny
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Źródło światła: dwa lasery Opolette 355 z pompą Nd:YAG wyposażoną w optyczne oscylatory parametryczne (OPO) przestrajalne w zakresie 210-2400 nm o szczytowej mocy impulsu rzędu 500 kW.
Układ detekcji: elektrochemiczna stacja robocza Z…
Środowiskowa sonda Kelvina
Osoba kontaktowa:
Szaciłowski Konrad
Opis techniczny:
Środowiskowa sonda Kelvina służy do pomiaru pracy wyjścia materiałów przewodzących
Spektrometr FTIR do pomiarów widm w podczerwieni
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Spektrometr FTIR Tensor II firmy Bruker wyposażony jest w:
przystawkę do pomiarów osłabionego całkowitego odbicia ATR ( Attenuated Total Reflectance) z monolitycznym kryształem diamentowym umożliwiającą pomiar w zakresie 350-8000 cm-1, …
System do analizy półprzewodników Keithley 4200-SCS
Osoba kontaktowa:
Mazur Tomasz
Opis techniczny:
System pomiarowy Keithley 4200-SCS jest modularnym, zintegrowanym rozwiązaniem pomiarowym przeznaczonym do badań materiałów, elementów półprzewodnikowych oraz związanych z nimi procesów. Urządzenie zapewnia pełną charakte…
Spektrometr fotoelektryczny
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Układ pomiarowy złożony z cyfrowo sterowanego źródła światła (lampa ksenonowa XBO150, monochromator, zestaw filtrów krawędziowych, migawka, układ stabilizacji natężenia światła), kalibrowanej fotodiody, dedykowanego potencjostatu oraz …
Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją falową (WD-XRF) Rigaku ZSX Primus IV
Osoba kontaktowa:
Mech Krzysztof
Opis techniczny:
ZSX Primus IV to spektrometr XRF z dyspersją długości fali do jakościowej, półilościowej i ilościowej analizy pierwiastków. Jest w stanie wykrywać pierwiastki od Be do U.
Specyfikacja:
Zakres analizowanych pierwiastków: Be…
