Aparatura

Opis techniczny: Tomograf wyposażony w dwie lampy – Microfocus (maksymalne napięcie 300 kV) i Nanofocus (maksymalne napięcie 180 kV)

Opis techniczny: Skanery laserowe zostały opracowanie z myślą o pomiarach wewnątrz i na zewnątrz budynków w takich branżach jak architektura, inżynieria, budownictwo, bezpieczeństwo publiczne i kryminalistyka lub projektowanie produktów. Urządzenia rej…

Opis techniczny: Nanotwardościomierz: Urządzenie służy do pomiaru twardości materiałów o drobnokrystalicznej strukturze, cienkich warstw. Wykonywanie pomiarów pojedynczych i cyklicznych. Możliwość nanoszenia obciążenia od 0,05 mN do 500 mN. Wyposażone …

Opis techniczny: Działo jonów Ar typu Penning, pracujące przy napięciu w zakresie od 0kV do 6kV Możliwość obserwacji próbki podczas procesu polerowania i cięcia przy użyciu stereoskopu Zakres polerowania próbek: średniacy 50 mm, wysokość 25 mm T…

Opis techniczny: Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…

Opis techniczny: Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…

Opis techniczny: Konstrukcja dwupiecowa Zasada pomiaru : Kompensacyjna Materiał pieca: 90% stopu platyny Czujniki temperatury: Rozproszone, platynowe termometry oporowe Zakres -180˚C do 750˚C Dokładność ±0,05˚C Pecyzja  ±0,008˚C Punkty danych/s 33…

Opis techniczny: Tryby pracy: AFM – mikroskop sił atmowych LFM – mikroskop sił poprzecznych MFM – mikroskop sił magnetycznych EFM – mikroskop sił elektrycznych PeakForce QNM - obrazowanie własności nano-mechanicznych na podstawie analizy krzy…