Aparatura
Zetasizer wraz z układem titrującym i celką do pomiaru potencjału zeta na ciele stałym
Osoba kontaktowa:
Wytrwał Magdalena
Opis techniczny:
Zetasizer Nano ZS (Malvern Instruments Ltd., Worcestershire, UK) to urządzenie służące do charakterystyki takich materiałów jak nanocząstki, koloidy, białka, liposomy czy mikroemulsje. Analizator pozwala na uzyskanie parametrów fizykoc…
Stanowisko do pomiaru oporu cienkich warstw metodą czteropunktową w zewnętrznym polu magnetycznym
Osoba kontaktowa:
Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny:
Urządzenie Nanometer 1.0 umożliwia pomiar oporu i charakterystykę prądowo-napieciową cienkich warstw metodą czteropunktową w zakresie od mOhm do MOhm. Możliwe jest również pomiar magnetooporu, poprzez przyłożenie małego pola magnetycznego 50 …
System do analizy półprzewodników Keithley 4200-SCS
Osoba kontaktowa:
Mazur Tomasz
Opis techniczny:
System pomiarowy Keithley 4200-SCS jest modularnym, zintegrowanym rozwiązaniem pomiarowym przeznaczonym do badań materiałów, elementów półprzewodnikowych oraz związanych z nimi procesów. Urządzenie zapewnia pełną charakte…
Czytnik płytek wielodołkowych (Infinite M Nano, Tecan)
Osoba kontaktowa:
Wytrwał Magdalena
Opis techniczny:
Czytnik płytek wielodołkowych (Infinite M Nano, Tecan). Urządzenie wyposażone jest w dwa monochromatory (ksenonowa lampa UV) do wzbudzenia pozwalające na wykonanie pełnego skanu absorbancji, moduł odczytu absorbancji w zakresie 230-1000 nm z możliwo…
Spektrometr FTIR do pomiarów widm w podczerwieni
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Spektrometr FTIR Tensor II firmy Bruker wyposażony jest w:
przystawkę do pomiarów osłabionego całkowitego odbicia ATR ( Attenuated Total Reflectance) z monolitycznym kryształem diamentowym umożliwiającą pomiar w zakresie 350-8000 cm-1, …
Próżniowy system do nanoszenia cienkich warstw i wytwarzania nanocząstek
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
Stanowisko laboratoryjne składa się z dwóch próżniowych komór procesowych firmy Mantis, spełniających standardy wysokiej próżni (HV). Pierwsza komora procesowa służy do nanoszenia jednoczesnego lub sekwencyjnego wieloskła…
Napylarka Leica EM ACE600
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
Wysokopróżniowa napylarka Leica EM ACE600 do napylania cienkich warstw z dwóch źródeł różnych metali. W skład układu wchodzą:
wewnętrzna, zintegrowana z systemem membranowa, bezolejowa pompa próżniowa oraz po…
Oczyszczarka plazmowa Harrick PDC-32G Plasma Cleaner
Osoba kontaktowa:
Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny:
Plasma Cleaner służy do oczyszczania powierzchni próbek z zanieczyszczeń pochodzenia organicznego lub do aktywacji powierzchni. Urządzenie pozwala na zastosowanie tlenu lub argonu oraz ich mieszaniny do wytwarzania plazmy, zapewniając kontrol…
Spektrometr mössbauerowski
Osoba kontaktowa:
Bilovol Vitaliy
Opis techniczny:
Nowej generacji cyfrowy spektrometr mössbauerowski MS-4 firmy Renon zawiera blok detekcji promieniowania obejmujący głowicę detekcyjną, blok jądrowy oraz bloki kontroli wibratora i kontroli systemu. Jest wyposażony w laserowy kalibra…
Laserowy dwuwiązkowy - spektrometr fotoelektryczny
Osoba kontaktowa:
Podborska Agnieszka
Opis techniczny:
Źródło światła: dwa lasery Opolette 355 z pompą Nd:YAG wyposażoną w optyczne oscylatory parametryczne (OPO) przestrajalne w zakresie 210-2400 nm o szczytowej mocy impulsu rzędu 500 kW.
Układ detekcji: elektrochemiczna stacja robocza Z…
