Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Chromatograf gazowy Agilent Technologies 7890B System

Osoba kontaktowa: Twaróg Anna
Opis techniczny: Chromatograf sprzężony jest z komputerem i generatorem wodoru NM-H2 Plus firmy LNI Schmidlin. Chromatograf wyposażony jest w detektor płomieniowo-jonizacyjny FID oraz detektor cieplno-przewodnościowy TCD. Przeznaczony jest do rozdziałów miesz…

Porozymetr rtęciowy AutoPore

Osoba kontaktowa: Machowski Grzegorz
Opis techniczny: Porozymetr rtęciowy AutoPore IV 9520 firmy Micromeritics. Aparat umożliwia pomiar średnicy, objętości i dystrybucji makroporów i mezoporów w próbkach stałych i proszkowych.  Badania skał: petrofizyka, geologia naftowa, g…

Liniowy skaner rentgenowski

Osoba kontaktowa: Dąbrowski Karol
Opis techniczny: Aparatura składa się głównie z grubej, izolującej promieniowanie obudowy ze stali nierdzewnej, sterowanego komputerowo generatora promieniowania rentgenowskiego umożliwiającego użytkownikowi regulację natężenia promieniowania rentgenowskiego,…

IFT Cell 1000

Osoba kontaktowa: Dąbrowski Karol
Opis techniczny: Wysokociśnieniowa komórka badawcza wg certyfikatu CE zgodnie z PED 2014/68/EU. Możliwość pomiaru dla ciśnień do 1000 bar i 200 °C. System obrotowy dla kąta zwilżania - pomiar między cieczą, a skałą, próbka (płyta skalna &Oslas…

Spektrometr absorpcji atomowej AAS

Osoba kontaktowa: Bajda Tomasz
Opis techniczny: Spektrometr absorpcji atomowej AAS do analiz składu chemicznego roztworów - pierwiastki od Li do U. Spektrometr posiada funkcje takie jak programowalna skrzynka gazowa, 8 lamp z automatycznym ustawieniem lamp, optymalizacją długości fali i…

Radar interferometryczny IBIS-L/S

Osoba kontaktowa: Kuras Przemysław
Opis techniczny: Naziemny radar interferometryczny IBIS-L/S to precyzyjne mikrofalowe urządzenie pomiarowe, służące do zdalnego, bezdotykowego pomiaru przemieszczeń i deformacji obiektów budowlanych oraz powierzchni terenu z wysoką dokładnością. Główny…

Nanotwardościomierz i Nano-Scratch Tester firmy CSM Instruments

Osoba kontaktowa: Radziszewska Agnieszka
Opis techniczny: Nanotwardościomierz: Urządzenie służy do pomiaru twardości materiałów o drobnokrystalicznej strukturze, cienkich warstw. Wykonywanie pomiarów pojedynczych i cyklicznych. Możliwość nanoszenia obciążenia od 0,05 mN do 500 mN. Wyposażone …

Zestaw do jonowego polerowania i trawienia materiałów

Osoba kontaktowa: Kopyściański Mateusz
Opis techniczny: Działo jonów Ar typu Penning, pracujące przy napięciu w zakresie od 0kV do 6kV Możliwość obserwacji próbki podczas procesu polerowania i cięcia przy użyciu stereoskopu Zakres polerowania próbek: średniacy 50 mm, wysokość 25 mm T…

Skaningowy mikroskop elektronowy Nova Nano SEM 450

Osoba kontaktowa: Kopyściański Mateusz
Opis techniczny: Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…

Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50

Osoba kontaktowa: Kopyściański Mateusz
Opis techniczny: Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…