Aparatura
Optyczny spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem w plazmie indukcyjnie sprzężonej (ICP-OES)
Osoba kontaktowa:
Kmiecik Ewa
Opis techniczny:
Optyczny spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem w plazmie indukcyjnie sprzężonej model Optima 7300DV (Perkin Elmer).
Możliwość obserwacji plazmy w dwóch kierunkach tzw. system dual view (axial i radial) oraz zastosowanie dwóch detektor…
Tomograf
Osoba kontaktowa:
Wałach Daniel
Opis techniczny:
Tomograf wyposażony w dwie lampy – Microfocus (maksymalne napięcie 300 kV) i Nanofocus (maksymalne napięcie 180 kV)
Skaner laserowy 3D
Osoba kontaktowa:
Jaskowska-Lemańska Justyna
Opis techniczny:
Skanery laserowe zostały opracowanie z myślą o pomiarach wewnątrz i na zewnątrz budynków w takich branżach jak architektura, inżynieria, budownictwo, bezpieczeństwo publiczne i kryminalistyka lub projektowanie produktów. Urządzenia rej…
Nanotwardościomierz i Nano-Scratch Tester firmy CSM Instruments
Osoba kontaktowa:
Radziszewska Agnieszka
Opis techniczny:
Nanotwardościomierz: Urządzenie służy do pomiaru twardości materiałów o drobnokrystalicznej strukturze, cienkich warstw. Wykonywanie pomiarów pojedynczych i cyklicznych. Możliwość nanoszenia obciążenia od 0,05 mN do 500 mN. Wyposażone …
Zestaw do jonowego polerowania i trawienia materiałów
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Działo jonów Ar typu Penning, pracujące przy napięciu w zakresie od 0kV do 6kV Możliwość obserwacji próbki podczas procesu polerowania i cięcia przy użyciu stereoskopu Zakres polerowania próbek: średniacy 50 mm, wysokość 25 mm T…
Skaningowy mikroskop elektronowy Nova Nano SEM 450
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów Schottk'ego o wysokiej stabilności prądu wiązki, niska i wysoka próżnia. Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), TLD-SE i -BSE, tryb transmisyjny (STEM), Możliwości a…
Skaningowy mikroskop elektronowy INSPECT S50
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Źródło elektronów , elektorda wolframowa Energia wiązki 200 eV - 30 keV Detekcja elektronów wtórnych (SE), wstecznie rozproszonych (BSE), Możliwosci analityczne EDS, EBSD Rozdzielczość (wg producenta): 3 nm przy 30 kV (SE…
Skaningowy kalorymetr różnicowy
Osoba kontaktowa:
Kopyściański Mateusz
Opis techniczny:
Konstrukcja dwupiecowa Zasada pomiaru : Kompensacyjna Materiał pieca: 90% stopu platyny Czujniki temperatury: Rozproszone, platynowe termometry oporowe Zakres -180˚C do 750˚C Dokładność ±0,05˚C Pecyzja ±0,008˚C Punkty danych/s 33…
Mikroskop ze skanującą sondą (Mikroskop sił bliskiego zasięgu)
Osoba kontaktowa:
Cieniek Łukasz
Opis techniczny:
Tryby pracy: AFM – mikroskop sił atmowych LFM – mikroskop sił poprzecznych MFM – mikroskop sił magnetycznych EFM – mikroskop sił elektrycznych PeakForce QNM - obrazowanie własności nano-mechanicznych na podstawie analizy krzy…
