Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Drutowe centrum elektroerozyjne (W-EDM)

Osoba kontaktowa: Tokarski Tomasz
Opis techniczny: Urządzenie CNC przeznaczone do obróki eklektroerozyjnej przy użyciu drutu. Umozliwia precyzyjne wycinanie dowolnych kształtów zdefiniowanych w G-CODE w materiałach przewodzących. Cięcie odbywa się dejonizowanej wodzie. 

Piec z dopalaczem spalin do wypalania żywic z materiałów ceramicznych

Osoba kontaktowa: Tokarski Tomasz
Opis techniczny: Urządzenie znajduje zastosowanie przy suszeniu i wypalaniu ceramiki. Piec posiada automatycznie zamykany stół roboczy z windą, co pozwala na łatwiejszy załadunek wsadu od dołu. Grzanie realizowane jest oporowo przy wykorzystaniu element&oacut…

ScatterX78

Opis techniczny: Komora ScatterX78 umożliwia jednoczesny pomiar w próżni SAXS i WAXS. Pomiar możliwy jest już dla rozmiarów obiektów od 1 nm w wymiarach 1D i 2D. Dodatkowo zaproponowane rozszerzenie aparatury badawczej pozwala na prowadzenie bad…

Dyfraktometr rentgenowski z przystawką SAXS/WAXS

Opis techniczny: Dyfraktometr proszkowy Panalytical Empyrean z lampą Cu. Pozwala prowadzić pomiary w geometrii wiązki Bragg-Brentano z użyciem szczelin kolimacyjnych oraz w geometrii wiązki równoległej (lustro Goebla). Dyfraktometr wyposażony  w wysokocz…

Dyfraktometr rentgenowski z przystawką wysokotemperaturową

Opis techniczny: Dyfraktometr proszkowy Panalytical Empyrean z lampą Co. Pozwala prowadzić pomiary w geometrii wiązki Bragg-Brentano z użyciem szczelin kolimacyjnych oraz w geometrii wiązki równoległej (lustro Goebla). Wyposażony są w wysokoczuły detektor (PI…

Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów galu (FIB/SEM)

Osoba kontaktowa: Berent Katarzyna
Opis techniczny: Dwuwiązkowy wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy FEI Versa 3D wyposażony jest w działo elektronowe z emisją polową (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Ga+ (FIB - Focused Ion Beam). Umożliwia pracę z napięciem przyspieszającym…

Maszyna wytrzymałościowa Instron 5982

Osoba kontaktowa: Cios Grzegorz
Opis techniczny: Maksymalne obciążenie 100 kN. Wysokość przestrzeni roboczej 1430 mm. Dokładność pomiaru siły +/- 0.5% odczytu w dół do 1/500 zakresu głowicy pomiarowej (głowicy pomiarowej serii 2580). Akwizycja danych z częstotliwością próbkowania do …

Nanoindenter in-situ FT-NMT04

Osoba kontaktowa: Kawałko Jakub
Opis techniczny: Nanoindenter in-situ FT-NMT04 umożliwia prowadzenie szeregu testów mikro-mechanicznych w połączeniu z jednoczesną obserwacją testowanej próbki w komorze elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM): Nanoindentację Testy ściskania mikro-…

Dwuwiązkowy ultra-wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonów ksenonu (PFIB/SEM) wraz z mikroskopem sił atomowych (AFM)

Osoba kontaktowa: Berent Katarzyna
Opis techniczny: Dwuwiązkowy, ultra-wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy Helios 5 wyposażony jest w wysokostabilne, monochromatyczne działo elektronowe z emisją polową Schottky'ego (FEG - Field Emission Gun) oraz działo jonowe Xe (PFIB - …

Reometr rotacyjny Physica MCR 302 firmy ANTON PAAR

Osoba kontaktowa: Kmita Angelika
Opis techniczny: Reometr rotacyjny Physica MCR 302 firmy Anton Paar jest urządzeniem służącym do badania właściwości reologicznych różnorodnych materiałów. Umożliwia wykonanie analiz (testów reologicznych) w warunkach stałej szybkości ścinania (…