Aparatura
Analizator sorpcji gazów
Osoba kontaktowa:
Przybylski Marek
Opis techniczny:
Analizator sorpcji umożliwia określenie ilości zabsorbowanego przez próbkę gazu, w kontrolowanych warunkach ciśnienia i temperatury, przy zastosowaniu metody wolumetrycznej Sieverts'a. Może być wykorzystywany do analizy sorpcji H2, CO2, C…
Elipsometr spektroskopowy
Osoba kontaktowa:
Mazur Tomasz
Opis techniczny:
Elipsometr spektroskopowy SER-850 jest urządzeniem działającym w zakresie od ultrafioletu do bliskiej podczerwieni, służącym do pomiaru grubości oraz podstawowych właściwości optycznych cienkich warstw oraz struktur wielowarstwowych. Urządzenie pozw…
Elektronika sterująca głowicą skaningowego mikroskopu tunelowego
Osoba kontaktowa:
Naumov Andrii
Opis techniczny:
„RHK R9plus SPM control system” jest częścią skaningowego mikroskopu tunelowego (STM) i jest obecnie najnowszą elektroniką sterującą aparaturą SPM firmy RHK, zalecaną do przeprowadzania zaawansowanych pomiarów STM. System ten wyr&…
Nanoindenter in-situ FT-NMT04
Osoba kontaktowa:
Kawałko Jakub
Opis techniczny:
Nanoindenter in-situ FT-NMT04 umożliwia prowadzenie szeregu testów mikro-mechanicznych w połączeniu z jednoczesną obserwacją testowanej próbki w komorze elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM): Nanoindentację Testy ściskania mikro-…
Magnetometr VSM z kriostatem
Osoba kontaktowa:
Sikora Marcin
Opis techniczny:
Magnetometr wibracyjny, typ 7407 firmy LakeShore, wuposażony w kriostat i piec pozwala na pomiar namagnesowania w funkcji temperatury (w zakresie od temperatury ciekłego azotu do 1000 ºC), w funkcji zewnętrznego pola magnetycznego (do 2.5 Tesla…
Mikroskop sił atomowych sprzężony z nanoindenterem
Osoba kontaktowa:
Szuwarzyński Michał
Opis techniczny:
Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop pracujący w układzie skanowania sondą. Maksymalny obszar skanowania wynosi 90×90 μm w zakresie poziomym i do 10 μm w zakresie pionowym. Mikro…
