Filtry

Eksportuj wyniki

Aparatura


Analizator pierwiastków O, N i H

Osoba kontaktowa: Lejda Katarzyna
Opis techniczny: Analizator elementarny ONH836 tlenu/azotu/wodoru jest przeznaczony do szerokiego zakresu pomiarów zawartości tlenu, azotu i wodoru w materiałach nieorganicznych, stopach żelaza i metali nieżelaznych oraz materiałach ogniotrwałych z wykorzysta…

3Flex

Osoba kontaktowa: Samojeden Bogdan
Opis techniczny: 3Flex jest w pełni automatycznym analizatorem, jego 3 portowa budowa pozwala na wysokowydajne, długie analizy pola powierzchni, mezoporów i mikroporów, z najwyższą wydajnością rozdzielczością i redukcją danych. Każd…

Chromatograf gazowy GC-MS/TCD – Shimadzu GCMS-QP2020(EI)

Osoba kontaktowa: Mech Krzysztof
Opis techniczny: Chromatograf gazowy wyposażony w detektory MS oraz TCD, umożliwiający analizę jakościową oraz ilościową składu fazy gazowej. Konfiguracja: MS – gaz nośny: He, kolumna: Agilent J&W HP-PLOT/U; l=30m; d=0.53 mm, zakres temperatury: 60 &…

Automatyczny bonder i szybki oscyloskop z analizą sygnałów cyfrowych

Osoba kontaktowa: Idzik Marek
Opis techniczny: W Katedrze Oddziaływań i Detekcji Cząstek (KOiDC) Wydziału Fizyki i Informatyki Stosowanej (WFiIS) Akademii Górniczo-Hutniczej (AGH) od prawie 20 lat projektuje i buduje systemy detekcji dla eksperymentów fizyki cząstek elementarnych. …

Stanowisko do wytwarzania i badań in situ nanostruktur sensorowych

Osoba kontaktowa: Zakrzewska Katarzyna
Opis techniczny: Technologiczno-pomiarowe stanowisko składające się z 5 niezależnych komór spełniających standardy ultra-wysokiej próżni (UHV) firmy PREVAC

Skaningowy mikroskop elektronowy, SEM

Osoba kontaktowa: Kruk Adam
Opis techniczny: MERLIN z kolumną GEMINI II i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (AsB), 3DSM i…

Skaningowy mikroskop elektronowy z działem jonowym (SEM/FIB)

Osoba kontaktowa: Gajewska Marta
Opis techniczny: Mikroskop Quanta 3D 200i typu „dual beam” (SEM/FIB) jest urządzeniem dedykowanym do preparatyki cienkich folii do badań TEM/STEM. Instrument wyposażony jest w dwa działa: elektronowe (włókno wolframowe) oraz jonowe (Ga+),  sy…

Wysokorozdzielczy transmisyjny mikroskop elektronowy

Osoba kontaktowa: Kruk Adam
Opis techniczny: Wysokorozdzielczy analityczny transmisyjny mikroskop elektronowy (zdolność rozdzielcza równa jest 70 pm) z unikalnym oprzyrządowaniem. Jest on wyposażony w działo elektronowe X-FEG z monochromatorem, korektor aberracji sferycznej układu konde…

Analizator sorpcji gazów

Osoba kontaktowa: Przybylski Marek
Opis techniczny: Analizator sorpcji umożliwia określenie ilości zabsorbowanego przez próbkę gazu, w kontrolowanych warunkach ciśnienia i temperatury, przy zastosowaniu metody wolumetrycznej Sieverts'a. Może być wykorzystywany do analizy sorpcji H2, CO2, C…

Rezystograf do drewna

Opis techniczny: Badanie oporów skrawania wykonuje się przy pomocy elastycznego wiertła wykonanego z wolframu o średnicy 1,5 mm z górną krawędzią skrawająca o szerokości 3,0 mm, które wwiercane jest w badany element drewniany ze stałą …