Aparatura
Niskotemperaturowy skaningowy mikroskop tunelowy
Osoba kontaktowa:
Trembułowicz Artur
Opis techniczny:
Mikroskop wykorzystuje kwantowe zjawisko tunelowania elektronów pomiędzy próbką a ostrzem skanującym. Mikroskop pozwala m.in. na obserwowanie powierzchni próbki z rozdzielczością atomową, obrazowanie struktury cząsteczek, defekt…
Klaster obliczeniowy wysokiej wydajności TeraACMiN
Osoba kontaktowa:
Biborski Andrzej
Opis techniczny:
Klaster obliczeniowy złożony z 2 węzłów obliczeniowych zawierających po dwa procesory AMD EPYC 9754 i wyposażonych w 384 GB pamięci RAM. Sumaryczna liczba rdzeni obliczeniowych: 1024.
System Pulsacyjnej Ablacji Laserowej
Osoba kontaktowa:
Naumov Andrii
Opis techniczny:
System PLD umożliwia wytwarzanie warstw epitaksjalnych, wielowarstwowych heterostruktur, supersieci i warstw amorficznych z różnych materiałów (metale, niemetale, tlenki, ceramika itp.). System PLD jest wyposażony w karuzelę z 6 miejsc…
System do wysokorozdzielczej litografii elektronowej
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
W pomieszczeniu czystym klasy 100 znajduje się urządzenie do litografii elektronowej (Raith eLine+). Układ składa się z działa elektronowego, detektora elektronów wtórnych, detektora in-lens, interferometru laserowe…
Mikroskop metalograficzny (clean room) Nikon Eclipse LV150N
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
Mikroskop świetlny (LM) umożliwia obrazowanie w świetle odbitym w jasnym polu (BF), ciemnym polu (DF), świetle spolaryzowanym (POL) oraz kontraście interferencyjnym tzw. kontraście Nomarskiego (DIC). Posiada w pełni zmotoryzowany stolik (X,Y,Z), poz…
Chłodziarka rozcieńczalnikowa z magnesem
Osoba kontaktowa:
Chrobak Maciej
Opis techniczny:
Chłodziarka rozcieńczalnikowa 3He/4He pracująca w cyklu zamkniętym pozwala na osiągnięcie i ustabilizowanie temperatur w zakresie od 10 mK do 30 K. Moc chłodząca w temperaturze 100 mK wynosi 200 µW, a w 20 mK 4 µW. Zintegrowany magnes na…
Analizator sorpcji gazów
Osoba kontaktowa:
Jabłoński Piotr
Opis techniczny:
Analizator sorpcji umożliwia określenie ilości zabsorbowanego przez próbkę gazu, w kontrolowanych warunkach ciśnienia i temperatury, przy zastosowaniu metody wolumetrycznej Sieverts'a. Może być wykorzystywany do analizy sorpcji H2, CO2, C…
Profilometr do pomiarów warstw o wymiarach nanometrycznych
Osoba kontaktowa:
Jurzecka-Szymacha Maria
Opis techniczny:
Profilometr igłowy stykowy służący badaniu chropowatości oraz falistości powierzchni z rozdzielczością 1 A oraz powtarzalnością na poziomie 4 A≤ (angstrem).
Zintegrowany System Pomiarów Mossbauerowskich
Osoba kontaktowa:
Cieślak Jakub
Opis techniczny:
Standardowy tor spektrometryczny z detektorem proporcjonalnym (ksenonowym) z oprogramowaniem.
Kaseta NIM z zasilaczem
Detektor proporcjonalny, ksenonowy, w osłonie z blach ołowianych
Zasilacz wysokiego napięcia Wzmacniacz i dyskryminator K…
Magnetometr VSM z kriostatem
Osoba kontaktowa:
Szkudlarek Aleksandra
Opis techniczny:
Magnetometr wibracyjny, typ 7407 firmy LakeShore, wuposażony w kriostat i piec pozwala na pomiar namagnesowania w funkcji temperatury (w zakresie od temperatury ciekłego azotu do 1000 ºC), w funkcji zewnętrznego pola magnetycznego (do 2.5 Tesla…
